微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5224B PNA 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，900 Hz/10 MHz 至 43.5 GHz提供 10 MHz 至 43.5 GHz 頻率范圍、1 個信號源 2 端口...
微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5225B PNA 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀: 900 Hz/10 MHz 至 50 GHz,提供 10 MHz 至 50 GHz 頻率范圍、1 個信號源 2 端口和 ...
微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5227B PNA 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀：10 MHz 至 67 GHz，1 個信號源 2 端口和 2 個信號源 4 端口、信號源和接收機(jī)衰減器、偏置 T 型接頭、...
晶圓檢測儀 參考價：面議
HMI eScan 315 晶圓檢測儀是一款由HMI公司制造的自動化晶圓和掩模檢查設(shè)備，旨在為圖案化晶圓和光罩檢查過程提供經(jīng)濟(jì)高效的解決方案。該系統(tǒng)采用專有的P...
光學(xué)顯微鏡 參考價：面議
OLYMPUS AL3110 光學(xué)顯微鏡是一款多功能的顯微鏡，適用于多種應(yīng)用領(lǐng)域.OLYMPUS AL3110 顯微鏡設(shè)計用于提供高精度和圖像質(zhì)量，廣泛應(yīng)用于生...
光學(xué)顯微鏡 參考價：面議
OLYMPUS AL2100 光學(xué)顯微鏡是一款高性能的顯微鏡，具有多種功能和用途。AL2100顯微鏡具有明場、暗場、偏振光、熒光和相位對比度成像能力。它還配備了...
光學(xué)顯微鏡 參考價：面議
OLYMPUS AL2000 光學(xué)顯微鏡是一款由奧林巴斯公司生產(chǎn)的顯微鏡，具有多種應(yīng)用和功能。此顯微鏡特別適用于晶圓檢測，是一種晶圓檢查顯微鏡，適用于半導(dǎo)體行業(yè)...
光學(xué)顯微鏡 參考價：面議
OLYMPUS AL120 光學(xué)顯微鏡是一種用于半導(dǎo)體晶圓搬送及檢測的顯微鏡系統(tǒng)，具有多種型號和配置，以滿足不同尺寸和需求的晶圓處理。
光學(xué)顯微鏡 參考價：面議
Nikon OST 3200 光學(xué)顯微鏡是一款多功能的光學(xué)顯微鏡和晶圓檢測設(shè)備，廣泛應(yīng)用于研究、臨床和教學(xué)領(lǐng)域。Nikon OST-3200 提供了圖像質(zhì)量和優(yōu)...
光學(xué)顯微鏡 參考價：面議
Nikon OST 3100 光學(xué)顯微鏡是一種用于半導(dǎo)體檢測的顯微鏡系統(tǒng)，專為300mm晶圓設(shè)計。高分辨率成像：它能夠提供高分辨率、三維動態(tài)變焦和溫度控制的樣本...
晶圓檢測儀 參考價：面議
THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進(jìn)的晶圓測試和計量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲和光伏產(chǎn)業(yè)。該設(shè)備具備多種尖duan技術(shù)，能夠提供高精...
光學(xué)計量儀 參考價：面議
KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學(xué)計量儀是一種先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測試和計量設(shè)備，主要用于精確測量半導(dǎo)體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測試和計量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)及研發(fā)領(lǐng)域。該設(shè)備具有高精度和可重復(fù)性的特點(diǎn)，能夠提供精...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測和計量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè)。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak&t...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓測試和計量設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度檢測。該系統(tǒng)采用超紫外（UV）模式匹配技術(shù)和最新一代的...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強(qiáng)大且高效的晶圓測試和計量設(shè)備，通過其先進(jìn)的檢測技術(shù)、自動化功能和模塊化設(shè)計，能夠顯著提升半導(dǎo)體制造過程...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進(jìn)的晶圓測試和計量系統(tǒng)，專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計。該系統(tǒng)具有多種功能和特點(diǎn)，使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現(xiàn)...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng)。該系統(tǒng)配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進(jìn)的晶圓和掩模檢測系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。該系統(tǒng)具備多種功能，包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統(tǒng)，具有多種先進(jìn)技術(shù)和高靈敏度成像功能。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：用途：主要用于圖案化晶...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測設(shè)備，廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統(tǒng)采用先進(jìn)的...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn)，具有多種功能和特...
橢圓偏光儀 參考價：面議
RUDOLPH S3000A 橢圓偏光儀是一種高性能的橢圓偏光計，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：波長：該設(shè)備配備532nm的激光源。樣品尺寸：適用...
薄膜厚度測試儀 參考價：面議
Rudolph MP300 薄膜厚度測試儀是一種高性能的晶圓測試和計量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：類型：晶圓測試和計量設(shè)備。用途：用于...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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