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首頁>>深圳市達瑞博電子有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>顆粒檢測儀

  • 顆粒檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進的掩模和晶圓檢測設(shè)備,廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統(tǒng)采用先進的...
    型號: SP2 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    顆粒檢測儀晶圓檢測KLA-Tencor缺陷檢測晶圓檢測儀
    2025/4/29 9:30:42883
  • 顆粒檢測儀 參考價:面議

    KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn),具有多種功能和特...
    型號: SFS6420 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    顆粒檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測表面分析計量
    2025/4/29 9:28:43552

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