Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀

Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀

Aeris緊湊型X射線衍射儀

臺式X射線衍射儀（XRD）

我們的臺式 X 射線衍射 (XRD) 儀器 Aeris 可提供此前只有大型落地式儀器才具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和速度。

您面臨這些挑戰(zhàn)嗎？

XRD設(shè)備價格昂貴，難以決定購買

設(shè)備較大，沒有足夠的空間安裝。

測量和操作復(fù)雜，沒有專業(yè)知識很難使用

測量和分析需要時間，導(dǎo)致業(yè)務(wù)運營延遲

依賴外包分析和等待結(jié)果的時間

對小型設(shè)備的準確性和可靠性的擔(dān)憂

Aeris 內(nèi)置觸摸屏和直觀的軟件，方便任何人使用。數(shù)據(jù)輸出可以使用與落地式 XRD 儀器相同的 High Score 分析軟件進行詳細分析，用于化合物識別、定量分析、結(jié)晶度分析、晶粒尺寸分析、晶相的 Rietveld 定量分析以及晶體結(jié)構(gòu)分析。Aeris

是 Malvern Panalytical 的 XRD 儀器，為工業(yè)臺式應(yīng)用提供優(yōu)良的數(shù)據(jù)采集和全自動化功能。Aeris 是一款經(jīng)濟實惠的 XRD 儀器，提供四個版本（水泥版、礦物版、金屬版和研究版），以滿足您特定的應(yīng)用需求。

OmniTrust兼容：適用于制藥監(jiān)管環(huán)境的解決方案

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版本

特征

配件

支持

客戶評價

相關(guān)資源

版本

Aeris 研究版

我們提供準確的通用材料分析解決方案，滿足您的所有需求。

Aeris 研究版

Aeris水泥版

直接研究水泥和中間體的礦物組成。

Aeris水泥版

Aeris 礦物版

多功能礦石分析儀，可供采礦業(yè)的任何人使用。

Aeris 礦物版

Aeris Metals 版

可靠、快速地分析燒結(jié)體、還原鐵和殘余奧氏體。

Aeris Metals 版

Aeris 制藥應(yīng)用

藥物開發(fā)和制造的固體形態(tài)分析

Aeris 制藥應(yīng)用

特征

繼承 型號光學(xué)系統(tǒng)的臺式型號

通常，臺式X射線衍射儀使用的測角儀體積小巧輕便。Aeris配備了與高精度落地式X射線衍射儀（XRD）類似的測角儀，以及X射線管和高速探測器。

高靈敏度，可檢測出 1% 或更少的晶相和多態(tài)性

符合 21 CFR 第 11 部分的數(shù)據(jù)完整性軟件

水平采樣系統(tǒng)消除了粉末樣品掉落的風(fēng)險

無需冷卻水設(shè)備，大大減少安裝和維護成本

相關(guān)博客文章：XRD 在實現(xiàn)綠色水泥中的重要作用

檢測靈敏度和分辨率

與傳統(tǒng)的臺式粉末X射線衍射（XRD）相比，低角度下的背景有所降低，因此更容易檢測到微小的峰值。

此外，即使是臺式X射線衍射（XRD），它也實現(xiàn)了小于0.04°半寬的輪廓分辨率。 它可有效進行精確的Rietveld分析。

精度和再現(xiàn)性

通過安裝與 X射線衍射儀器（XRD）相當?shù)母呔葴y角儀，可以獲得角度線性在±0.02°以內(nèi)的高可靠性數(shù)據(jù)，實現(xiàn)良好的測量重復(fù)性和再現(xiàn)性。

安全性

X射線照射單元、測量單元和檢測系統(tǒng)都是密封的，確保安全性。 測量時，將樣品放置在儀器外部的樣品臺上，并自動傳送到測量單元并開始測量操作。

提供豐富晶體信息的日語XRD研究軟件高分

靈活分析

利用 算法的搜索匹配功能實現(xiàn)高精度識別

無需改變原始格式即可分析數(shù)據(jù)

內(nèi)部開發(fā)的 Rietveld 細化算法經(jīng)過數(shù)十年的改進

可靈活應(yīng)用高階函數(shù)和多種模型，實現(xiàn)高精度擬合。

聚類分析功能自動對測量數(shù)據(jù)進行分類

PLS（偏線性回歸）分析可以對天然產(chǎn)品樣本等復(fù)雜數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析

實用功能

X 射線衍射所需的高級衍射功能 集成到一個軟件中

一款軟件，涵蓋從研究人員的高級衍射到 QA/QC 應(yīng)用的所有內(nèi)容

保存的分析條件可自動處理多個數(shù)據(jù)，并可一次導(dǎo)出任何參數(shù)。

復(fù)制/粘貼和撤消/重做功能允許您調(diào)整配件

位圖掃描轉(zhuǎn)換器可以將紙質(zhì)圖表轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù)，讓您可以讀取舊數(shù)據(jù)或其他公司的數(shù)據(jù)進行比較分析。

無需特殊操作環(huán)境

綜合的

從數(shù)據(jù)分析到輸出和用戶數(shù)據(jù)庫創(chuàng)建

與其他 Malvern Panalytical X 射線衍射 (XRD) 產(chǎn)品（Empyrean、X'Pert 系列）相同

High Score主要用于身份識別，可擴展為High Score Plus（Rietveld分析功能）

對于那些剛接觸 X 射線分析的人來說

如何用XRD識別化合物并分析樣品中的晶體：首先，將單色（單波長）X射線以不同角度照射到粉末上。如果樣品含有晶體，當角度滿足“布拉格條件"時，會出現(xiàn)由晶面間距引起的峰。該峰出現(xiàn)的“角度位置"表示該晶體 的“面間距"。換句話說，可以通過峰的位置和強度來估計所含晶體的種類和數(shù)量，從而進行定性（鑒定）甚至定量分析。此外

，還可以分析晶粒尺寸、晶體畸變和晶格常數(shù)等參數(shù)。

如果樣品不含晶體成分，即非晶態(tài)，則不會出

我司代理及優(yōu)勢品牌一覽明細：

代理品牌：CCS晰寫速SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時計、NPM日脈

NS日本科學(xué)、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機

SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學(xué)、NIPPON GEAR日本齒輪

NIDEC尼得科、MIYACHI天田、TORAY 東麗

優(yōu)勢品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC

S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學(xué)

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計器

IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學(xué)KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機

SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、

RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等

優(yōu)勢產(chǎn)品：日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈

變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計、焊接機、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機、電子天平、粘度計、膜厚計、恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機、壓力傳感器、氣體檢測儀、接近開關(guān)、拉拔機、異音檢測儀、應(yīng)變測試儀、拉針儀、水平測試儀等

氣動元件：SMC FESTO CKD,MAC，安沃馳AVENTICS，雄克SCHUNK，小金井KOGANEI，諾冠NORGREN，寶德BURKERT，力士樂REXROTH，濱霸BIMBA，康茂勝CAMOZZI，PIAB

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電氣控制：西門子SIEMENS，施耐德 SCHNEIDER，伊頓-穆勒EATON，羅克韋爾A-B，ABB，三菱MITSUBISHI，丹佛斯DANFOSS，倫茨LEUZE，SEW

端子連接器：菲尼克斯PHOENIX，魏德米勒WEIDMULLER，浩亭HARTING，高松電子