Malvern馬爾文 Revontium 緊湊X射線衍射儀

Malvern馬爾文 Revontium 緊湊X射線衍射儀

Aeris緊湊型X射線衍射儀

臺(tái)式X射線衍射儀（XRD）

我們的臺(tái)式 X 射線衍射 (XRD) 儀器 Aeris 可提供此前只有大型落地式儀器才具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和速度。

您面臨這些挑戰(zhàn)嗎？

XRD設(shè)備價(jià)格昂貴，難以決定購(gòu)買

設(shè)備較大，沒(méi)有足夠的空間安裝。

測(cè)量和操作復(fù)雜，沒(méi)有專業(yè)知識(shí)很難使用

測(cè)量和分析需要時(shí)間，導(dǎo)致業(yè)務(wù)運(yùn)營(yíng)延遲

依賴外包分析和等待結(jié)果的時(shí)間

對(duì)小型設(shè)備的準(zhǔn)確性和可靠性的擔(dān)憂

Aeris 內(nèi)置觸摸屏和直觀的軟件，方便任何人使用。數(shù)據(jù)輸出可以使用與落地式 XRD 儀器相同的 High Score 分析軟件進(jìn)行詳細(xì)分析，用于化合物識(shí)別、定量分析、結(jié)晶度分析、晶粒尺寸分析、晶相的 Rietveld 定量分析以及晶體結(jié)構(gòu)分析。Aeris 

是 Malvern Panalytical 的 XRD 儀器，為工業(yè)臺(tái)式應(yīng)用提供優(yōu)良的數(shù)據(jù)采集和全自動(dòng)化功能。Aeris 是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 XRD 儀器，提供四個(gè)版本（水泥版、礦物版、金屬版和研究版），以滿足您特定的應(yīng)用需求。 

OmniTrust兼容：適用于制藥監(jiān)管環(huán)境的解決方案

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版本

特征

配件

支持

客戶評(píng)價(jià)

相關(guān)資源

版本

Aeris 研究版

我們提供準(zhǔn)確的通用材料分析解決方案，滿足您的所有需求。

Aeris 研究版

Aeris水泥版

直接研究水泥和中間體的礦物組成。

Aeris水泥版

Aeris 礦物版

多功能礦石分析儀，可供采礦業(yè)的任何人使用。

Aeris 礦物版

Aeris Metals 版

可靠、快速地分析燒結(jié)體、還原鐵和殘余奧氏體。

Aeris Metals 版

Aeris 制藥應(yīng)用

藥物開(kāi)發(fā)和制造的固體形態(tài)分析

Aeris 制藥應(yīng)用

特征

繼承 型號(hào)光學(xué)系統(tǒng)的臺(tái)式型號(hào)

通常，臺(tái)式X射線衍射儀使用的測(cè)角儀體積小巧輕便。Aeris配備了與高精度落地式X射線衍射儀（XRD）類似的測(cè)角儀，以及X射線管和高速探測(cè)器。 

高靈敏度，可檢測(cè)出 1% 或更少的晶相和多態(tài)性

符合 21 CFR 第 11 部分的數(shù)據(jù)完整性軟件

水平采樣系統(tǒng)消除了粉末樣品掉落的風(fēng)險(xiǎn)

無(wú)需冷卻水設(shè)備，大大減少安裝和維護(hù)成本

相關(guān)博客文章：XRD 在實(shí)現(xiàn)綠色水泥中的重要作用

檢測(cè)靈敏度和分辨率

與傳統(tǒng)的臺(tái)式粉末X射線衍射（XRD）相比，低角度下的背景有所降低，因此更容易檢測(cè)到微小的峰值。 

此外，即使是臺(tái)式X射線衍射（XRD），它也實(shí)現(xiàn)了小于0.04°半寬的輪廓分辨率。 它可有效進(jìn)行精確的Rietveld分析。 

精度和再現(xiàn)性

通過(guò)安裝與 X射線衍射儀器（XRD）相當(dāng)?shù)母呔葴y(cè)角儀，可以獲得角度線性在±0.02°以內(nèi)的高可靠性數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)良好的測(cè)量重復(fù)性和再現(xiàn)性。 

安全性

X射線照射單元、測(cè)量單元和檢測(cè)系統(tǒng)都是密封的，確保安全性。 測(cè)量時(shí)，將樣品放置在儀器外部的樣品臺(tái)上，并自動(dòng)傳送到測(cè)量單元并開(kāi)始測(cè)量操作。  

提供豐富晶體信息的日語(yǔ)XRD研究軟件高分

靈活分析

利用 算法的搜索匹配功能實(shí)現(xiàn)高精度識(shí)別

無(wú)需改變?cè)几袷郊纯煞治鰯?shù)據(jù)

內(nèi)部開(kāi)發(fā)的 Rietveld 細(xì)化算法經(jīng)過(guò)數(shù)十年的改進(jìn)

可靈活應(yīng)用高階函數(shù)和多種模型，實(shí)現(xiàn)高精度擬合。

聚類分析功能自動(dòng)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行分類

PLS（偏線性回歸）分析可以對(duì)天然產(chǎn)品樣本等復(fù)雜數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析

實(shí)用功能

X 射線衍射所需的高級(jí)衍射功能 集成到一個(gè)軟件中

一款軟件，涵蓋從研究人員的高級(jí)衍射到 QA/QC 應(yīng)用的所有內(nèi)容

保存的分析條件可自動(dòng)處理多個(gè)數(shù)據(jù)，并可一次導(dǎo)出任何參數(shù)。

復(fù)制/粘貼和撤消/重做功能允許您調(diào)整配件

位圖掃描轉(zhuǎn)換器可以將紙質(zhì)圖表轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，讓您可以讀取舊數(shù)據(jù)或其他公司的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較分析。

無(wú)需特殊操作環(huán)境

綜合的

從數(shù)據(jù)分析到輸出和用戶數(shù)據(jù)庫(kù)創(chuàng)建

與其他 Malvern Panalytical X 射線衍射 (XRD) 產(chǎn)品（Empyrean、X'Pert 系列）相同

High Score主要用于身份識(shí)別，可擴(kuò)展為High Score Plus（Rietveld分析功能）                                                                         

對(duì)于那些剛接觸 X 射線分析的人來(lái)說(shuō)

如何用XRD識(shí)別化合物并分析樣品中的晶體：首先，將單色（單波長(zhǎng)）X射線以不同角度照射到粉末上。如果樣品含有晶體，當(dāng)角度滿足“布拉格條件"時(shí)，會(huì)出現(xiàn)由晶面間距引起的峰。該峰出現(xiàn)的“角度位置"表示該晶體 的“面間距"。換句話說(shuō)，可以通過(guò)峰的位置和強(qiáng)度來(lái)估計(jì)所含晶體的種類和數(shù)量，從而進(jìn)行定性（鑒定）甚至定量分析。此外 

，還可以分析晶粒尺寸、晶體畸變和晶格常數(shù)等參數(shù)。 

如果樣品不含晶體成分，即非晶態(tài)，則不會(huì)出

我司代理及優(yōu)勢(shì)品牌一覽明細(xì)：

代理品牌：CCS晰寫(xiě)速SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時(shí)計(jì)、NPM日脈

NS日本科學(xué)、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機(jī)

SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫(xiě)真化學(xué)、NIPPON GEAR日本齒輪

NIDEC尼得科、MIYACHI天田、TORAY 東麗

優(yōu)勢(shì)品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC

S-VANS斯萬(wàn)斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學(xué)

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計(jì)器

IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學(xué)KURABO倉(cāng)紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛(ài)光、SEM坂本電機(jī)

SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、

RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫(kù)斯、YODOGAWA淀川等

優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品：日本紫外線照度計(jì)、紫外線裝置燈管、LED視覺(jué)光源、表面檢查燈、手持檢測(cè)燈

變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計(jì)、焊接機(jī)、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機(jī)、電子天平、粘度計(jì)、膜厚計(jì)、恒流泵、采樣泵、PH計(jì)、水分計(jì)、地震測(cè)試儀、脫泡攪拌機(jī)、壓力傳感器、氣體檢測(cè)儀、接近開(kāi)關(guān)、拉拔機(jī)、異音檢測(cè)儀、應(yīng)變測(cè)試儀、拉針儀、水平測(cè)試儀等

氣動(dòng)元件：SMC FESTO CKD,MAC，安沃馳AVENTICS，雄克SCHUNK，小金井KOGANEI，諾冠NORGREN，寶德BURKERT，力士樂(lè)REXROTH，濱霸BIMBA，康茂勝CAMOZZI，PIAB

傳感開(kāi)關(guān)：邦納BANNER，巴魯夫BALLUFF，皮爾茲PILZ,易福門IFM，西克SICK,圖爾克TURCK,良信，安士能EUCHNER，倍加福P+F，穆?tīng)朚URR，倍福BECKHOFF，德森克DI-SORIC，施邁賽SCHMERSAL，基恩士KEYENCE，歐姆龍OMRON，

電氣控制：西門子SIEMENS，施耐德 SCHNEIDER，伊頓-穆勒EATON，羅克韋爾A-B，ABB，三菱MITSUBISHI，丹佛斯DANFOSS，倫茨LEUZE，SEW

端子連接器：菲尼克斯PHOENIX，魏德米勒WEIDMULLER，浩亭HARTING，高松電子