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深圳市矢量科學儀器有限公司

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薄膜計量紅外光譜橢圓儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號SENTECH SENDIRA

品牌SENTECH

廠商性質經銷商

所在地德國

更新時間:2025-06-06 10:14:53瀏覽次數(shù):327次

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SENTECH SENDIRA 專為紅外 (FTIR) 而設計。這款緊湊的臺式儀器包括吹掃橢偏儀光學元件、計算機控制的測角儀、水平樣品平臺、自動準直望遠鏡、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 檢測器。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 (1.7 μm – 25 μm) 的光譜范圍內提供出色的精度和高分辨率。

1. 產品概述

SENTECH SENDIRA 為紅外 (FTIR) 而設計。這款緊湊的臺式儀器包括吹掃橢偏儀光學元件、計算機控制的測角儀、水平樣品平臺、自動準直望遠鏡、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 檢測器。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 (1.7 μm – 25 μm) 的光譜范圍內提供出色的精度和高分辨率。

2. 主要功能與優(yōu)勢

測量靈活性

SENTECH SENDIRA 橢圓偏振光譜儀可測量散裝材料、單層和多層堆疊的薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)和相關特性。該工具可用于覆蓋在可見范圍內不透明的層下方的層,使其可用于測量??梢苑治霾牧系慕M成以及較大分子基團和鏈的取向。

橢圓振動光譜

利用紅外光譜中分子振動模式的吸收帶分析了薄層的組成。此外,載流子濃度可以用這種FTIR光譜橢偏儀測量。

適用的傅里葉變換紅外

對于 Thermo Fisher Scientific 光譜儀的商用 FTIR iS50,安裝了紅外橢偏儀光學元件。它也可用于一般振動光譜法。

精確的測量和準確的結果

SENTECH SENDIRA注于薄層的振動光譜分析。應用范圍從介電薄膜、TCO 和半導體到有機層。SENDIRA 由 SpectraRay/4 軟件操作。另外還提供FTIR軟件。

相位噪聲測量

是德科技提供專用的相位噪聲分析儀系統(tǒng),可以簡化您的相位噪聲測量,并大限

便攜式示波器

便攜式示波器某些測試要求使用更便攜、可堆疊的儀器進行專業(yè)級測量。 但是

數(shù)字萬用表(DMM)

在設計產品時,您不應擔心測量質量問題, 而應該全神貫注于創(chuàng)造優(yōu)質設計。

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