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我司销售的太阳能模拟器（ HO-SC-SS Series）2024/12/05

用于在实验室模拟太阳光的仪器称为太阳模拟器。Holmarc的太阳模拟器是目前太阳模拟器之一。我们使用氙灯作为光源，并配备了高质量的准直光学镜片、空气质量滤波器和控制电子设备。此外，我们还配备了百叶窗，以便控制光束的落区。特殊的设计和控制电子元件让用户在使用设备时感到非常方便。您可以在任何需要稳定光源的实验中使用该仪器。规格300W太阳能模拟器-300W氙灯：型号-HO-SC-SS300C光输出:1个太阳光谱匹配度（理想百分比的分数）：0.60-1.40辐照度不均匀度:时间光不稳定性：±2照明头设

我司销售的量子效率测量系统 - VIS IR(HO-SC-QE-C1)2024/12/05

光谱响应度或量子效率（QE）对于了解光伏设备中的电流产生、重组和扩散机制至关重要。光伏电池和组件的校准通常需要使用量子效率的光谱校正因子。量子效率的单位是每个入射光子收集到的电子-空穴对，它是根据测量到的光谱响应计算出来的，单位是安培/瓦，是波长的函数。HO-SC-QE型号集成了50瓦卤钨灯、外壳、光学器件、电源和易于使用的软件，能够测量400纳米到1200纳米波长范围内太阳能电池的光谱响应和量子效率。规格参数SR（光谱响应）EQE（外部量子效率）或IPCE（入射光子对电流效率）（交流和直流光谱

我司销售量子效率和光谱响应测量系统（HO-SC-QE）2024/12/05

光谱响应度或量子效率（QE）对于了解光伏设备中的电流产生、重组和扩散机制至关重要。光伏电池和组件的校准通常需要使用量子效率的光谱校正因子。量子效率的单位是每个入射光子收集到的电子-空穴对，它是根据测量到的光谱响应计算出来的，单位是安培/瓦，是波长的函数。HO-SC-QE型号集成了50瓦卤钨灯、外壳、光学器件、电源和易于使用的软件，能够测量400纳米到1200纳米波长范围内太阳能电池的光谱响应和量子效率。规格光源：50瓦卤素灯波长范围：400纳米至1200纳米斩波器频率：400Hz偏置光：3W白色

我司销售的量子效率& IV 测量系统（HO-SC-QEIV）2024/12/03

光谱响应度或量子效率（QE）对于了解光伏设备中的电流产生、重组和扩散机制至关重要。光伏电池和组件的校准通常需要使用量子效率的光谱校正因子。量子效率的单位是每个入射光子收集到的电子-空穴对，它是根据测量到的光谱响应计算出来的，单位是安培/瓦，是波长的函数。HO-SC-QEIV型号与300瓦氙灯集成，配有外壳、光学器件、电源和一个易于使用的软件，能够测量太阳能电池的暗态和亮态IV特性以及量子效率测量（300nm-1600nm）。规格太阳能电池类型：染料敏化太阳能电池、单晶硅/多晶硅太阳能电池、过氧化

我司销售的磁光学光谱仪（HO-A216FR/KRORMS）2024/12/03

Holmarc推出了一种新型创新的高灵敏度和高磁场光谱法拉第/克尔效应测量设备，采用VIS-NIR波长。HOLMARCA216FR/KR测试站提供标准化的测试解决方案，适用于各种光学旋转测量应用。模块化硬件设计允许用户在一台仪器中自动测量法拉第效应、MOKE和椭偏仪。专为磁光学材料研究和测试而设计，包括铁磁和铁磁薄膜和材料的磁特性分析。测量包括超薄磁性薄膜和多层膜的磁滞回线、椭圆度测量、介电材料薄膜厚度测量、折射率、Delta和Psi测量等。系统可在极性、纵向和横向配置下运行。规格光源：Spec

我司销售的光谱磁光学旋转仪（HO-VIS214ORMS）2024/12/03

它专为测量波长范围为385nm至900nm的法拉第旋转角而设计。利用该设备可以精确测量法拉第旋转的磁场相关性。该法拉第效应测量设备的工作原理是旋转分析法。在磁极间隙为12毫米时，可产生最大15,000高斯的磁场。光学旋转测量分辨率为±0.01度。通过使用可选装置，还可以测量热依赖性。由于可以设计安装加热室和低温恒温器，因此可以评估-70至300°C范围内的热依赖性。用户可通过软件控制样品温度和磁场。规格光源：Spectra20W石英卤素灯偏振分析方法：旋转分析方法比色皿：10毫米路径长度玻璃比色

我司销售的基于激光的高灵敏度磁光克尔效应站2024/12/03

HOLMARCMOKELB215是一种易于使用的基于磁光克尔效应（MOKE）激光的系统，它提供了一种获取不同磁场和温度下磁矩变化的便捷方法。测量使用408nm、532nm和650nm二极管激光器。该仪器采用了锁相放大器技术，并使用光学调制器进行调制。样品安装在磁体中心，表面与磁场平行或垂直。提供的高磁场、可变间隙偶极电磁铁允许用户以纵向或垂直的几何形状施加大磁?。?0毫米极间隙时约20,000高斯），以研究硬磁材料。HOLMARCMOKELB215随附ORMS软件。它可以快速准确地管理数据收集和

我司销售的近正常光谱反射仪（HO-NNSR-02）2024/12/03

近正常光谱反射仪是用于工业和研究领域薄膜厚度分析的基本仪器。Holmarc的NNSR（型号：HO-NNSR-02）能够高速、高重复性地分析薄膜厚度、复折射率和表面粗糙度。NNSR理论采用菲涅尔方程的复杂矩阵形式。绝对反射光谱是反射仪的原理，即反射光束（通常为多色）的强度与入射光束强度的比值。通常入射到样品表面的光束会从薄膜的顶部和底部反射出来，这些光束会受到干扰，并通过光纤（双纤光纤）经计算机传导到连接光谱仪的CCD上。在监视器上，我们可以看到与薄膜厚度成正比的干涉振荡光谱图。规格薄膜厚度范围：

我司销售自动折射仪（HO-AR-1700）2024/12/02

来自Holmarc的AR-1700自动折射仪是一款结构紧凑的仪器，用于测量折射率和白利糖度的数字式自动折射仪。AR-1700自动折射仪具有精确度、自动温度补偿、宽读数范围和简单快速的操作等特点。它具有出色的灵活性，可为各种应用提供准确的读数。规格工作原理：光学折射临界角检测系统折射率：1.3200-1.6500分辨率:0.0001精度:+-0.001糖度：0-95分辨率:0.01精度：+-0.5光波长：589nm(NaD-line)光源:高性能LED滤光器：589nm干涉滤光器探测器：东芝线性阵

我司销售用于液下低能表面的接触角仪器（HO-IAD-CAM-LLE）2024/12/02

与使用注射器制造液体并将其滴到表面的标准设置不同，这种的仪器可用于在液浴中制造两个独立的液滴。利用摄像头设置，可以从底部和侧面观察液滴表面。在垂滴沉积技术中，一根末端装有液滴的针被带到表面附近。液滴接触表面后会扩散并达到平衡，在此过程中，液滴会自发地从针上脱落。规格这些运动都是全自动的，可通过专用软件进行控制。该系统包括双注射泵、两个13.5毫米宽10X物镜、变焦镜头组件、图像组合光学器件、5MPUSB摄像机、样品定位台、LED光源等。液滴的底视图和侧视图宽度相同，可在一个窗口中查看。设备配有两

我司提供用于液下低能表面的接触角仪器现货销售2024/12/02

与使用注射器制造液体并将其滴到表面的标准设置不同，这种仪器可用于在液浴中制造两个独立的液滴。利用摄像头设置，可以从底部和侧面观察液滴表面。在垂滴沉积技术中，一根末端装有液滴的针被带到表面附近。液滴接触表面后会扩散并达到平衡，在此过程中，液滴会自发地从针上脱落。功能这些运动都是全自动的，可通过专用软件进行控制。该系统包括双注射泵、两个13.5毫米宽10X物镜、变焦镜头组件、图像组合光学器件、5MPUSB摄像机、样品定位台、LED光源等。液滴的底视图和侧视图宽度相同，可在一个窗口中查看。设备配有两个

我司提供销售的接触角测量仪（HO-IAD-CAM-01B）现货销售2024/12/02

Holmarc的接触角测量仪型号：HO-IAD-CAM-01B是一款先进的测量仪，配有自动分配器、可旋转的基底支架和温度控制器。与型号HO-IAD-CAM-01A的附加功能是，该型号配备了基质支架温度控制装置（最高温度可达环境温度100摄氏度）。这对于研究接触角随温度的变化非常理想。Holmarc接触角分析软件具有视频捕捉和视频图像处理功能。测量接触角的表面可以从水平位置旋转180度，以进行高级接触角研究，并发现接触角滞后现象。规格测量方法：无柄水滴法分析方法：采用蛇滴法进行自动曲线拟合分析。光

我司提供仪器接触角测量仪（HO-IAD-CAM-01BC）现货销售2024/12/02

Holmarc的接触角测量仪型号为：HO-IAD-CAM-01BC，是一种先进的型号，具有动态接触角测量功能，可通过电动方式精确倾斜基底支架、点胶机到摄像头定位装置（摄像头可定位在不同角度，以进行液滴成像）、自动点胶机和温度控制。可在不同角度测量前进和后退接触角（图像采集也是自动的），还可测量滚落角。规格测量方法蛇滴法分析方法采用蛇滴法进行自动曲线拟合分析。光学系统高性能像差校正成像镜头，可精确手动调节焦距。测量角度范围0-180度测量精度≤1度摄像头类型CMOS传感器图像分辨率（像素）2592

光谱极坐标仪。（HO-ASP-500）现货销售2024/12/02

Holmarc为工业和研究领域制造性能可靠、效率高的高质量自动偏振计。我们的偏振计采用法拉第调制的对称角振荡光学无效技术，以实现高分、辨率和可重复性。HO-ASP-500采用石英卤素灯和高光谱分辨率单色器作为光源。通过使用石英卤素灯，可在380-850nm的宽分析波长范围内进行测量。与普通干涉滤光片相比，波长精度更高。我们的高质量光学系统提高了光收集能力和系统的灵活性。设备上的所有调整均可通过易于使用的触摸屏进行。规格光源：石英卤素灯探测器：PMT单色仪：Czerny-Turner光栅：炽热全息

接触角测量仪（HO-IAD-CAM-01）现货销售2024/12/02

Holmarc的接触角测量仪（型号：HO-IAD-CAM-01）是一款结构紧凑、经济高效的CMOS仪器，用于测量液体在固体基底上的接触角。它配有带摄像头接口的手动分配装置，用于测量液体在固体表面上的接触角。测量接触角的表面保持水平位置，使用无柄液滴法测量接触角。规格测量方法：无柄水滴法分析方法：采用蛇滴法进行自动曲线拟合分析。光学器件：高性能像差校正成像镜头，可精确手动调节焦距。摄像头类型和FPS：CMOS传感器图像分辨率（像素）：2592x1944视频系统：高性能CMOS传感器。随附3米屏蔽U

光谱极坐标仪（HO-ASP-500）2024/11/29

Holmarc为工业和研究领域制造性能可靠、效率高的高质量自动偏振计。我们的偏振计采用法拉第调制的对称角振荡光学无效技术，以实现高分辨率和可重复性。HO-ASP-500采用石英卤素灯和高光谱分辨率单色器作为光源。通过使用石英卤素灯，可在380-850nm的宽分析波长范围内进行测量。与普通干涉滤光片相比，波长精度更高。我们的高质量光学系统提高了光收集能力和系统的灵活性。设备上的所有调整均可通过一个易于使用的触摸屏进行，样品参数可根据不同的应用进行定制。规格光源：石英卤素灯探测器：PMT单色仪：Cz

数字偏振计（HO-DP-500）2024/11/29

Holmarc生产的自动数字偏振计性能稳定、效率高，适用于工业和研究领域。我们的偏振计采用法拉第调制的对称角振荡光学空技术，以实现高分辨率和可重复性。操作非常简单：将装满样品的试管放入自动偏振仪，然后按下READ（读取）按钮。测量结果将显示在仪器的彩色液晶显示屏上。规格光源：LED光学波长：589纳米测量范围：±180°（可切换）分辨率:0.009度重复性:0.018Deg.精度：±0.03度测量模式：光学旋转、比旋转、浓度、光学纯度和糖度。样品室：可容纳长度达200毫米的样品池原理：对称角振荡

磁光学椭偏仪（HO-A216MOE-PH）2024/11/29

Holmarc推出了一种利用VIS-NIR波长的创新型高灵敏度和高磁场光谱椭偏测量设备。HOLMARCA216测试站提供标准化的测试解决方案，适用于各种光学旋转测量应用。?？榛布杓圃市碛没г诖懦『臀薮懦√跫伦远饬恳禾?、固体和薄膜样品。专为磁光学材料研究和测试而设计，包括铁磁和铁磁薄膜和材料的磁特性分析。测量包括超薄磁性薄膜和多层膜的磁滞回线、椭圆度测量、介电材料薄膜厚度测量、折射率、Delta和psi测量等。系统可在极性、纵向和横向配置下运行。规格光源：Spectra卤素灯、氘灯/卤素灯

可变角度光谱椭偏仪（HO-SE-01XY）2024/11/27

Holmarc型号：HO-SE-01XY可变角度光谱椭偏仪是旋转分析仪型椭偏仪，用于测量单层和多层薄膜的厚度和折射率。它可以测量几纳米到几十微米范围内的薄膜厚度，以及透明材料和吸收材料的光学常数。规格光谱范围：450-800纳米椭偏仪配置：RAE探测器：3648像素CCD线性传感器光谱分辨率：1纳米入射角：50-75度（分辨率0.1度，自动操作）样品聚焦：自动样品厚度：0.3毫米-8毫米样品XY平台行程：30毫米x30毫米（电动）厚度测量范围：20纳米-10微米薄膜厚度分辨率：0.01纳米测量R

可变角度光谱椭偏仪（HO-SE-01）2024/11/27

光谱椭偏仪广泛用于薄膜分析和测量。Holmarc的光谱椭偏仪采用旋转分析仪椭偏技术来表征薄膜样品。它使用高速CCD阵列检测来收集整个光谱。它可以测量从纳米厚度到几十微米的薄膜，以及从透明材料到吸收材料的光学特性。它能精确测量折射率、薄膜厚度和消光系数等光学常数。规格光谱范围：450-800纳米椭偏仪配置：RAE探测器：3648像素CCD线性传感器光谱分辨率：1纳米入射角：50-75度（分辨率0.1度，自动操作）样品聚焦：自动样品厚度：0.3毫米-8毫米厚度测量范围：20纳米-10微米薄膜厚度分辨