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日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80 特点介绍
非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪
一种简单的测量装置，只需将样品放置在探头之间即可进行测量。
在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换
使用 JOG 旋钮轻松设置测量条件
测量目标
半导体能电池材料相关（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜相关（金属、ITO等）
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80 规格参数
非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪
一种简单的测量装置，只需将样品放置在探头之间即可进行测量。
在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换
使用 JOG 旋钮轻松设置测量条件
测量目标
半导体能电池材料相关（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜相关（金属、ITO等）
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪
一种简单的测量装置，只需将样品放置在探头之间即可进行测量。
在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换
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