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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測試儀>> WLI2000系列日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀
產(chǎn)品型號WLI2000系列
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2025-05-09 08:08:39瀏覽次數(shù)：643次
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日本進(jìn)口miclab燃料電池發(fā)電測試儀評估設(shè)備
日本seikou-giken厚度深度測量傳感器工業(yè)用
日東NITTOSEIKO電導(dǎo)率電阻率測試儀測量硅片
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀 WLI2000系列 特點(diǎn)介紹
厚度測量傳感器WLI2000系列
該傳感器的特點(diǎn)是利用光干涉非接觸式測量工件的厚度。
它是應(yīng)用醫(yī)院眼底檢查中使用的 OCT 檢查技術(shù)而開發(fā)的工業(yè)測量傳感器。
這是該公司的第一個內(nèi)部產(chǎn)品。這是一種通過傳輸光，以非接觸方式即時測量材料深度和厚度的裝置，由工業(yè)界和學(xué)術(shù)界與千葉大學(xué)椎名龍夫?qū)嶒?yàn)室共同開發(fā)。據(jù)說任何能透過光的物質(zhì)都可以測量。我們正在開發(fā)樹脂、塑料、玻璃制品等檢查的銷售渠道。
它具有從15μm到14mm（空間距離）的寬測量范圍，還可以進(jìn)行其他測量方法難以完成的測量，例如測量透鏡內(nèi)部厚度、測量間隙深度和材料內(nèi)部缺陷。
目前正在開發(fā)中，未來可用于再生醫(yī)學(xué)領(lǐng)域。
日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀 WLI2000系列 規(guī)格參數(shù)
頻道數(shù)可作為可選規(guī)格擴(kuò)展至16ch。
為了提高精度，測定速度根據(jù)平均化和測定層數(shù)而變化。
·通過平均化處理提高測定精度。（10次平均、2mm玻璃板、±1μm實(shí)際結(jié)果）
測量范圍為玻璃板。
來自外部系統(tǒng)的操作為使用的DIO模塊的串行通信。
1最大8ch測定
2高速測定max.8ch/5sec
3測定精度+/-0.3%
4測量范圍15微~10mm
5可從外部系統(tǒng)操作
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