目录:上海波铭科学仪器有限公司>>光谱系统>>显微缺陷膜厚>> 量子效率测量系统 QE-2100
坚持高精度测量
●可即时测量绝对量子效率（绝对量子产率）
●可去除再激发荧光发射
●采用积分半球单元，实现明亮的光学系统。
●低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光
坚持简单的操作
●使用专用软件轻松操作
●易于安装/拆卸样品测量池
●节省空间且紧凑的设计
●可以使用分光型激发光源选择任意波长。
●通过在软件上指zhi定激发波长的波长和步长值，可以进行自动测量。
坚持多功能
●与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容
●丰富的分析功能
●量子效率（量子产率）测量
●激发波长相关性测量
●发射光谱测量
●PL激发光谱测量
●EEM（激发发射矩阵）测量
LED 和有机 EL 荧光粉的量子效率（量子产率）测量薄膜状
样品的透射荧光/反射荧光的量子效率（量子产率）测量-远程荧光粉等的荧光样品
量子点、荧光探针、生物场、包合物等的荧光测量。
染料敏化太阳能电池的量子效率（量子产率）测量
复杂化合物的测量
1. 具有积分半球的理想光学系统
QE-2000 配备有积分半球。与积分球（全局）相比，积分球具有以下特点。
由于非发光部分（支架等）可以暴露在外面，所以可以保持很小的自吸收，并且可以实现理想的光学系统。
反射镜使同一点的照度增加一倍，从而实现高灵敏度测量。
样品测量池可以轻松安装和拆卸，并且几乎没有损坏积分球内部的风险。
2.通过再激发荧光校正功能观察“真实物性值”
在包括再激发荧光发射的状态下，观察包括器件的特性，而不是对材料本身物性的观察，无法得到真实的物性值。QE-2000 可以通过利用积分半球的再激发荧光校正进行简单而准确的测量。
3.低杂散光多通道光谱检测器减少紫外区杂散光
使用传统检测器（多色仪）时，紫外区域的杂散光以高水平检测，因此不适合测量量子效率（量子产率）。大冢电子通过开发消除杂散光的技术解决了这个问题。安装在 QE-2000 上的多通道分光检测器的杂散光强度约为我们传统产品的 1/5，即使在紫外线区域也能实现高精度测量。
参考和样品激发光、荧光光谱测量示例
自动进样器
样品架 (
1) 用于粉末测量 SUS304 材质，带石英盖 (
2) 用于薄膜测量 用于透射测量的样品架
软件
直观且易于使用的专用软件。只需设置样品测量池，即可轻松测量量子效率（量子产率）、激发光谱等。
BAM 多重激励的测量示例
当激发波长发生变化时，量子效率（量子产率）发生变化。下图显示了 BAM（粉末）的量子效率（量子产率）和反射率的激发波长依赖性。(BAM = BaMgAl10O17: Eu) ● 蓝色（左刻度）：再激发校正后的内量子效率（内量子产率） ■ 红色（右刻度）：每个激发波长的反射率 从该图中，在 BAM 的情况下可以可见，随着激发光接近可见光区，吸收率降低，即反射率增加。
荧光素激发光谱的测定
激发光谱是指示荧光强度在哪个激发波长下最zui大化的光谱。右图显示了荧光素（蓝色）的激发光谱和激发波长（493 nm）处荧光强度最大的荧光光谱（绿色）。
荧光素内部量子效率的测量（内部量子产率）
右图为荧光素溶液在493 nm激发波长下的荧光光谱（包括激发光）。内量子效率（内量子产率）为0.903（浓度6.43×10-6 mol/L），相当于文献值0.921）。1) G. Weber 和 FWJ Teale，Trans Faraday Soc 53, 646 (1957)
测量量子点的内量子效率（内量子产率）
量子点作为可以通过改变其组成和内部结构来调整其光学特性的材料而备受关注。量子点的激发光谱和激发波长为370 nm的荧光光谱如下图所示。
测量单元、检测单元、光源单元为独立类型
除标准功能外，还可根据应用进行扩展。
量子效率测光系统（分体式）QE-2100
温度控制功能（50-300°C）可实现量子效率（量子产率）的温度相关测量
通过根据应用构建光学系统，可以支持各种样品。
该探测器还可用于总光通量测量和光分布测量
检测器可以改变到另一个波长范围
兼容紫外至近红外宽带（300 至 1600 nm）规格
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