商品名称：低阻抗率计 MCP-T370型 （手提式）
Loresta-AX
特色：维持安定之高质量，依据世界之四探针理论之高精度之阻抗率计
操作简单，现场使用携带型方便，用于生产技术、质量管理
测定范围：10-2～106Ω
资料输出：USB Memory
体积：约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g
标准配备

ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》
利用

商品名称：	低阻抗率计 MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX
特色：	维持安定之高质量，依据世界之四探针理论之高精度之阻抗率计 操作简单，现场使用携带型方便，用于生产技术、质量管理
测定范围：	10-2～106Ω
资料输出：	USB Memory
体积：	约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g

标准配备
	ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》 利用价值广泛标准探头JIS K7194对应， Pin间 5mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm
	MCP-TA06 充电器

选购品
	ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》 不均一样品用 Pin间 5mm，Pin尖 ? 2×4支，压力 240g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm
	PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》 小样品或薄膜用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 ? 10-20× L112mm
	QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》 微小样品用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 ? 10-20× L112mm
	NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，压力 250g/支
	BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》 大样品用 Pin间 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支
	TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，压力 50g/支
	AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》 标准样式 Pin间 10mm，Pin尖 ? 2×2支，压力 240g/支
	BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》 大样品用 Pin尖 ? 2×2支，压力 240g/支
	MCP-TRF1探头检验片 ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之)
	MCP-TRPS 探头检验片 PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之)
	MCP-TRTF 探头检验片 TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定前检查之)