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阻抗率計自動測繪系統 详细摘要： 阻抗率計自動測繪系統 MCP-S330特色：精確測量表面電阻率[Ω/ sq?]和體積電阻率[Ω/ cm?]不受樣本形狀的影響。導電膜，金屬，金屬薄膜等的厚度和成...
产品型号：MCP-S330 所在地：武汉市 更新时间：2025-05-12 参考价： 面议 在线留言
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详细摘要： 阻抗率計自動測繪系統 MCP-S330特色：精確測量表面電阻率[Ω/ sq?]和體積電阻率[Ω/ cm?]不受樣本形狀的影響。導電膜，金屬，金屬薄膜等的厚度和成...
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