銅鍍鎳測厚儀THICK800A,天瑞儀器

鍍層膜厚是電鍍產品的重要技術指標，關系到產品的質量以及生產成本。 Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可全自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加。

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試:

  銅鍍鎳測厚儀THICK800A,天瑞儀器樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um) 
吊扣 100 19.321 
吊扣2# 100 19.665 
吊扣3# 100 18.846 
吊扣4# 100 19.302 
吊扣5# 100 18.971 
吊扣6# 100 19.031 
吊扣7# 100 19.146 
平均值 100 19.18314 
標準偏差 0 0.273409 
相對標準偏差 0 1.425257 
銅鍍鎳件測試值
產品說明、技術參數(shù)及配置
THICK800A儀器介紹

THICK800A性能特點

1.采用美國原裝熱電致冷高性能
2.配置的DPP數(shù)字多道信號集成處理品
3.內置高清攝像頭，清晰觀察樣品
4.配套新的FP測量軟件。

THICK800A技術指標

1.6.1. 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；1.6.2. 元素含量分析范圍為1PPm到99.99%；1.6.3. 測量時間：60-200秒；1.6.4. 同時分析鍍層層數(shù)：多可達5層1.6.5. 鍍層檢測厚度范圍：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）層厚度0.05μm以上測量誤差小于5%，穩(wěn)定性小于1%，次層厚度0.25μm測量誤差小于10%，穩(wěn)定性小于1.5%。小測量厚度0.005μm.顯示精度0.0001μm.1.6.6. 采用微聚焦準直技術，小可達Ф0.2mm,應對小樣品和不規(guī)則樣品測試輕松自如。1.6.7. RoHS指令規(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其檢測限度達1PPM；   1.6.8. 能量分辨率為149±5電子伏特；1.6.9. 溫度適應范圍為15℃30℃；1.6.10 電源：交流220V±5V；（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。）

THICK800A標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

THICK800A應用領域

，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

鍍層膜厚是電鍍產品的重要技術指標，關系到產品的質量以及生產成本。 Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可全自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加。

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試:

樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um) 
吊扣 100 19.321 
吊扣2# 100 19.665 
吊扣3# 100 18.846 
吊扣4# 100 19.302 
吊扣5# 100 18.971 
吊扣6# 100 19.031 
吊扣7# 100 19.146 
平均值 100 19.18314 
標準偏差 0 0.273409 
相對標準偏差 0 1.425257 
銅鍍鎳件測試值
產品說明、技術參數(shù)及配置
THICK800A儀器介紹

THICK800A性能特點

1.采用美國原裝熱電致冷高性能
2.配置的DPP數(shù)字多道信號集成處理品
3.內置高清攝像頭，清晰觀察樣品
4.配套新的FP測量軟件。

THICK800A技術指標

1.6.1. 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；1.6.2. 元素含量分析范圍為1PPm到99.99%；1.6.3. 測量時間：60-200秒；1.6.4. 同時分析鍍層層數(shù)：多可達5層1.6.5. 鍍層檢測厚度范圍：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）層厚度0.05μm以上測量誤差小于5%，穩(wěn)定性小于1%，次層厚度0.25μm測量誤差小于10%，穩(wěn)定性小于1.5%。小測量厚度0.005μm.顯示精度0.0001μm.1.6.6. 采用微聚焦準直技術，小可達Ф0.2mm,應對小樣品和不規(guī)則樣品測