镀层测厚仪THICK800A 工作原理
从X荧光分析测量原理可以看出镀层被激发区的特征X射线的强度与镀层和涂层元素含量多少成正比。在一定被激发区的测量区域内，镀层和涂层元素百分比含量是固定的，因而所测得的X荧光强度与该测量范围镀层和涂层的厚度成一定正比例关系。在一定的厚度范围内，镀层和涂层的厚度与激发区的特征X射线的强度成正比例关系，因此只要测量该范围内的X荧光强度值，即可算出镀层和涂层的厚度。

 镀层测厚仪THICK800A 应用领域
铁基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，         
□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基-----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基-----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑胶基体----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
应用优势
1   快速：一般测量一个样品只需要30S～300S，样品可不处理或进行简单处理；
2   无损：物理测量，不改变样品性质；
3   ：对样品可以分析；
4   直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快；
5   环保：检测过程中不产生任何废气、废水。
仪器配置                                            
1    硬件：主机壹台，含下列主要部件： 
(1)   X光管                 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔      (8）双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2   软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3   计算机、打印机各一台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4   资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
5   标准附件
准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）
参数规格
1   分析元素范围：S-U
2   同时可分析多达5层以上镀层
3   分析厚度检出限达0.005μm
4   多次测量重复性可达0.01μm
5   定位精度：0.1mm
6   测量时间：30s-300s
7   计数率：1300-8000cps
8   Z轴升降范围：0-140mm
9   X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
性能特点
1  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4 采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5 定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6 鼠标可控制移动平台，鼠标的位置就是被测点；
7 高分辨率探头使分析结果更加；
8 良好的射线屏蔽作用；
9 测试口高度敏感性传感器?；?；
安装要求：
1   环境温度要求：15℃-30℃
2   环境相对湿度：<70%
3   工作电源：交流220±5V
4   周围不能有强电磁干扰。
质量
1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；
2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；
3. 保修条款
3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年；
3.2. 免费保修期内，维修相关费用全免；
Thick800A操作说明书：
1）          鼠标双击桌面上的“FpThick”软件图标：用户使用“Administrator”，密码：skyray
2）          进入测试软件后，选择“测试条件”
“打开”弹出以下：“确定”，即测试条件确定
3）          选择“工作曲线”，如下图：
选择所需要的工作曲线，此处以Ni/Fe曲线为例，如下图：
完成以上步骤后，工作曲线即已经选定4）          放入“Ag片”对仪器进行初始化

放好Ag片后初始化按钮，初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到一定的数，如300以上）。5）          放入需要测试的样品，“开始”键，输入样品名称后“确定”测试完成后即可保持，的位置可以在桌面的“分析”快捷方式中的“镀层”中找到。注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。