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德国韦氏纳米系统有限公司
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  • KLA iNano®纳米压痕仪

    KLA iNano®纳米压痕仪使测量薄膜、涂层和小体积材料变得更简单。准确、灵活、用户友好的仪器可以进行多样的纳米材料力学测试,包括压痕、硬度、划痕和...

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  • KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪

    KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪是一种易于使用的纳米级力学测试工具,可快速提供精确的定量分析结果。G200X系统可处理从硬质...

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  • KLA Candela® 7100系列缺陷检测和分类系统

    KLA Candela® 7100系列缺陷检测和分类系统为硬盘驱动器基板和介质提供了高级缺陷检测和分类功能。7100系列硬盘驱动器缺陷检测和分类系统以...

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  • KLA Candela® 6300系列光学表面分析仪系统

    KLA Candela® 6300系列光学表面分析仪系统为金属或玻璃数据存储基板和成品介质提供了先进的量测和检测功能。随着数据存储制造商努力通过进一步...

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  • KLA Zeta™-388光学轮廓仪

    KLA Zeta™-388光学轮廓仪提供3D量测和成像功能,与集成防震台和晶圆操作系统结合,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™ 技术...

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  • KLA Zeta™-300光学轮廓仪

    KLA Zeta™-300光学轮廓仪可提供3D 量测和成像功能,与集成式防震台和灵活的配置相结合,可以处理更大的样品。该系统采用ZDot&trade...

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  • KLA Zeta™-Solar光学轮廓仪

    全新的KLA Zeta™-Solar光学轮廓仪专为满足优良金属化工艺中对于细栅线、接触垫和主栅线的测量需求而设计。更为优良的3D 成像技术,以及最大...

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  • KLA Zeta™-20光学轮廓仪

    KLA Zeta™-20光学轮廓仪是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™ 技...

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  • KLA Filmetrics® Profilm3D® 光学轮廓仪

    KLA Filmetrics® Profilm3D® 光学轮廓仪和 Profilm3D-200 光学轮廓仪经济实惠,是一套非接触式基于白光干...

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  • KLA HRP®-260 探针式轮廓仪

    KLA HRP®-260 探针式轮廓仪是一个高分辨率、自动化探针式轮廓仪,提供从几纳米到 300 微米的台阶高度测量功能。P-260支持台阶高度、粗糙...

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  • KLA Tencor® P-170 探针式轮廓仪

    KLA Tencor® P-170 探针式轮廓仪是一款自动化轮廓仪,可为生产环节提供从几纳米到一毫米的台阶高度测量功能。该系统支持对台阶高度、粗糙度、...

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