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KLA Tencor® P-7探针式轮廓仪为生产和研发环节提供了从几纳米到一毫米的台阶高度测量功能。该系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维...

KLA Alpha-Step®D-500探针式轮廓仪能够测量几纳米到1200微米高的2D台阶。D-500也支持在研发和生产环节中对粗糙度、弯曲度和应力...

KLA Tencor® P-17探针式轮廓仪为生产和研发环节提供从几纳米到一毫米的台阶高度测量功能。该系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维...

半导体薄膜生长表面检测KLA Alpha-Step® D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到 1200微米的2D和3D台阶高度。D-600 还支持2...

KLA HRP®-260 探针式轮廓仪是一个高分辨率、自动化探针式轮廓仪，提供从几纳米到 300 微米的台阶高度测量功能。P-260支持台阶高度、粗糙...

KLA Tencor® P-170 探针式轮廓仪是一款自动化轮廓仪，可为生产环节提供从几纳米到一毫米的台阶高度测量功能。该系统支持对台阶高度、粗糙度、...