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TESEQ特測NSG5071開關(guān)瞬態(tài)測試電路特點(diǎn)：

根據(jù)福特標(biāo)準(zhǔn)EMC-CS-2009設(shè)計

瞬態(tài)干擾CI 220 A和C脈沖

CI 260波形F

用戶可更換的繼電器

NSG 5071*根據(jù)EMC-CS-2009.1設(shè)計，使用感應(yīng)/繼電器瞬變發(fā)生器測試電路測試CI 220脈沖A1，A2-1，A2-2，C1，C2和RI 130。NSG 5071在此測試電路中還具有CI 260波形F，該電路使用相同類型的繼電器。該測試電路在附件F中針對A，C脈沖和RI 130進(jìn)行了定義，在圖19-10中針對CI 260波形F進(jìn)行了定義。

該測試電路的基本原理是實(shí)際開關(guān)瞬態(tài)具有更好的重現(xiàn)性。該測試電路的可重復(fù)性不是來自于傳統(tǒng)進(jìn)行的汽車抗擾度測試中的輸出特性，而是來自使用幾個預(yù)定義組件的發(fā)電機(jī)的固定設(shè)計。這些組件中的許多組件在標(biāo)準(zhǔn)中都定義為“關(guān)鍵”，不允許替換。這些組件按標(biāo)準(zhǔn)要求使用。

TESEQ特測NSG5071開關(guān)瞬態(tài)測試電路參數(shù)：