同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀 參考價：面議
同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設(shè)計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設(shè)計，二...
TH512 半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀 參考價：面議
TH512 半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設(shè)計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設(shè)計，二極...
TH511半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀 參考價：面議
TH511半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀簡介：TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設(shè)計的...
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀 參考價：面議
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀：對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，...
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器 參考價：面議
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量...
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器 參考價：面議
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容...
HIOKI日置C測試儀電容測試設(shè)備 3504-40 參考價：面議
HIOKI日置C測試儀電容測試設(shè)備 3504-40：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 ...
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產(chǎn)品設(shè)計的專業(yè)測試設(shè)備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465....
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產(chǎn)品設(shè)計的專業(yè)測試設(shè)備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1...
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產(chǎn)品設(shè)計的專業(yè)測試設(shè)備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-...
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀 參考價：面議
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產(chǎn)品特色：●測試參數(shù):Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, C...
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數(shù)： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀 參考價：面議
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設(shè)備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務(wù)。系...
MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀ITC57300 參考價：面議
MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀ITC57300ITC57300是美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)的高集成度功率半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測...
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT 參考價：面議
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT華科智源IGBT電參數(shù)測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊...
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 參考價：面議
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224該設(shè)備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數(shù)測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實...
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT 參考價：面議
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，...
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