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HIOKI日置C测试仪电容测试设备 3504-40
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C
HIOKI日置C测试仪电容测试设备 3504-40概要
● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
基本参数
| 测量参数 | Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） |
|---|---|
| 测量范围 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D:±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数 |
| 测量频率 | 120Hz, 1kHz |
| 测量信号电平 | 恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) |
| 输出电阻 | 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时） |
| 显示 | 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定） |
| 测量时间 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 体积及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1 |
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