目錄:深圳市新瑪科技有限公司>>半導(dǎo)體C-V特性分析儀>>半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)>> IGCT自動測試系統(tǒng)
產(chǎn)品詳情
型 號:KC3106
設(shè)備簡介:IGCT(IntergratedGateCommutatedThyristors)是在晶閘管技術(shù)的基礎(chǔ)上結(jié)合IGBT和GTO等技術(shù)開發(fā)的新型器件,適用于高壓大容量變頻系統(tǒng)中,是一種用于巨型電力電子成套裝置中的新型電力半導(dǎo)體器件。
IGCT自動測試系統(tǒng)核心是安規(guī)及導(dǎo)通性能測試的訂制化標(biāo)準(zhǔn)測試平臺,其核心是采用了各種儀器儀表(萬用表、內(nèi)阻測試儀、安規(guī)測試儀、電源等)和繼電器板卡、配合測試機(jī)柜、產(chǎn)品的定制工裝,利用虛擬儀器技術(shù)相關(guān)功能進(jìn)行測試,并將檢測結(jié)果保存到本地盤,MES上傳到客戶指定數(shù)據(jù)庫;測試項目和內(nèi)容步驟保存到數(shù)據(jù)庫里面,數(shù)據(jù)庫包含單步測試功能模塊,儀器測試指令,工號權(quán)限,增加和刪除編輯項目可以在數(shù)據(jù)庫操作界面完成。所有測試項目都由電腦直接控制完成,無需人為操作儀器,達(dá)到安全、易用、精確、高效的效果。
IGCT自動測試系統(tǒng)檢測功能
序號 | 測試項 | 具體內(nèi)容/測試條件 |
1 | 測試X1短路 | X1.1/X1.3 是否短路 X1.1/X1.3 電壓 |
2 | PCB內(nèi)部電壓測試 | XS2.1/XS2.2 是否短路,Vin對GND,R150、R151右側(cè)對GND,5V(2)對GND,3.3V對GND 12V對GND,2.5V對GND,-2.5V對GND,-5V對GND,Vcoff對GND,Vcon對Vcoff,12V_Vcoff對Vcoff,5V_Vcoff對Vcoff |
3 | 電流觸發(fā)測試1 | 1、發(fā)光小板設(shè)置為100E,1倍率2、CH4接電流探頭,設(shè)置為上沿觸發(fā)、40A/div、20us/div,接負(fù)載板U形圈 3、CH1接Vgk/GND(J17為1*2pin單排針) 4、CH2接發(fā)光小板光電轉(zhuǎn)換接口5、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A6、長按觸發(fā)小板F47 |
4 | 電流觸發(fā)測試2
| 1、發(fā)光小板設(shè)置為100E,100倍率 2、CH4接電流探頭,設(shè)置為上沿觸發(fā)、40A/div、20us/div,接載板U形槽 3、CH1接Vgk/GND(J17為1*2pin單排針) 4、CH2接發(fā)光小板光電轉(zhuǎn)換接口 5、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A 6、長按觸發(fā)小板F47 |
5 | 50Hz連續(xù)觸發(fā)測試 | 1、發(fā)光小板設(shè)置為100D,100倍率。2、示波器設(shè)為CH4上升沿觸發(fā),50A/div,10ms/div,接載板U形槽3、XS2端口接150Vdc/2A,供電。4、長按觸發(fā)小板上的F47開關(guān) |
6 | 黑啟動電阻測試 | J17上端/J17下端 <0.15V |
7 | Vak采樣電阻 | 測RAK1兩端 |
8 | 啟動時間測試 | 1、CH1設(shè)為10V/div,直流耦合;CH3設(shè)為50V/div,直流耦合,示波器時間設(shè)為400ms/div。2、CH3通過差分探頭測量150V供電XS2。3、J17K/J17KG通過杜邦線引出,接在CH1上,測量電壓(Vgk電壓)4、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,啟動電源. |
9 | 待機(jī)電流測試 | 1、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A 2、測試完成后斷電 |
10 | 觸發(fā)開通延時時間 | 1、發(fā)光小板設(shè)置為100E,1倍率。2、CH2設(shè)為2V/div,接小板的光線轉(zhuǎn)換口3、CH1接觸發(fā)小板的發(fā)送端口引線處 3、CH4電流線圈,設(shè)為50A/div,400ns/div,上升沿觸發(fā),電平50A,接在負(fù)載板U形槽上4、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,示波器單次觸發(fā) 5、長按小板F47開關(guān),直至示波器觸發(fā)開通波形 |
11 | 強(qiáng)觸發(fā)電流峰值 | 1、發(fā)光小板設(shè)置為100E,1倍率。2、CH2設(shè)為2V/div,接小板的光線轉(zhuǎn)換口3、CH1接觸發(fā)小板的發(fā)送端口引線處 3、CH4電流線圈,設(shè)為50A/div,400ns/div,上升沿觸發(fā),電平50A,接在負(fù)載板U形槽上4、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,示波器單次觸發(fā) 5、長按小板F47開關(guān),直至示波器觸發(fā)開通波形 |
12 | 強(qiáng)觸發(fā)電流上升時間 | 1、發(fā)光小板設(shè)置為100E,1倍率。2、CH2設(shè)為2V/div,接小板的光線轉(zhuǎn)換口3、CH1接觸發(fā)小板的發(fā)送端口引線處 3、CH4電流線圈,設(shè)為50A/div,400ns/div,上升沿觸發(fā),電平50A,接在負(fù)載板U形槽上4、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,示波器單次觸發(fā) 5、長按小板F47開關(guān),直至示波器觸發(fā)開通波形 |
13 | 強(qiáng)觸發(fā)電流持續(xù)時間 | 1、12步測試完,2、CH4改為5A/div,10us/div,3、CH1改為上升沿觸發(fā),4、示波器單次觸發(fā)模式,長按觸發(fā)小板的F47,5、觸發(fā)開通波形后,示波器放大到2us/div |
14 | 穩(wěn)態(tài)觸發(fā)電流平均值、峰值 | 13步測試完,在波形暫停狀態(tài)下,縮小到10μs/div,利用示波器自帶測量穩(wěn)態(tài)部分平均值。(測試過程中忽略尖峰毛刺,并注意CH4是否出現(xiàn)零漂,如出現(xiàn)零漂,測試結(jié)果應(yīng)以相對值為準(zhǔn))測試完后斷電 |
15 | 掉電維持時間測試 繼電器斷電 | 1、CH1接X2第7點(由左向右),2、CH3設(shè)為50V/div,CH4設(shè)為50A//div,時間抽400ms/div3、觸發(fā)小板改為連續(xù)開通關(guān)斷模式:100F、100倍率4、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,驅(qū)動板正常工作后,長按觸發(fā)小板F47。5、驅(qū)動板處于50Hz觸發(fā)開通關(guān)斷狀態(tài),驅(qū)動板再斷電,CH1出現(xiàn)上升沿時,暫停波形。 |
16 | 強(qiáng)觸發(fā)電流峰值 | 15步測完后,將CH1設(shè)為上升沿觸發(fā),時間軸調(diào)整為1μs/div,發(fā)光小板斷電重新上電,驅(qū)動板上電工作正常后,示波器設(shè)為單次觸發(fā)模式,驅(qū)動板斷電,在被觸發(fā)暫停的波形上讀取CH4最大值(即強(qiáng)觸發(fā)電流峰值)并記錄 |
17 | 關(guān)斷電容組欠壓故障回報 | 16步測試完后,將示波器時間軸設(shè)置為4ms/div,CH1上升沿為觸發(fā)再次進(jìn)行驅(qū)動板斷電測試。 |
18 | 關(guān)斷延時測試 | 1、發(fā)光小板斷電,2、CH2接觸發(fā)小板的發(fā)送端口引線處,3、發(fā)光小板重新上電,設(shè)為100E,1倍率 2、CH1接Vgk(J17的2個測試針通過杜邦線引出后測試,避免打火),CH1設(shè)為10V/div,200ns/div,觸發(fā)電平設(shè)為-10V,下降沿觸發(fā) 3、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,示波器單測觸發(fā)模式,長按觸發(fā)小板F47,使驅(qū)動板單次觸發(fā)開通關(guān)斷。在被觸發(fā)暫停的波形上測試CH2上升沿至CH1下降至-20V的時間差并記錄 |
19 | 關(guān)斷電壓 | 18步測試完后,平移波形,避開CH1下降沿附近的振蕩,讀取CH1低電平期間的平均值并記錄。測試完成后斷電 |
20 | 關(guān)斷反饋上報信號-主動關(guān)斷 | 1、22步測試完后,示波器時間軸調(diào)為10μs/div,2、CH2切換回發(fā)光小板的接收端口,CH2下降沿觸發(fā),其他設(shè)置不變,3、示波器單次觸發(fā),長按觸發(fā)小板上的F47開關(guān),使驅(qū)動板單次觸發(fā)開通關(guān)斷。4、測試完成后斷電 |
21 | 關(guān)斷反饋上報信號-過零關(guān)斷 | 1、上步測試完成后,示波器的CH1設(shè)為500mV/div,CH2下降沿觸發(fā),時間軸10μs/div。2、發(fā)光小板設(shè)為100E,100倍率。 3、示波器單次觸發(fā),長按觸發(fā)小板上的F47開關(guān),使驅(qū)動板單次觸發(fā)開通關(guān)斷。 |
22 | VGK檢測閾值測試 | 21步測試完后,對CH2的第一個下降沿處的波形放大至200ns/div,通過光標(biāo)測量CH2開始下降時CH1的電壓值 |
23 | 開通電壓 | 22步測試完后,將放大波形調(diào)整到20μs/div,平移波形200μs以上避開CH1的下降階段,使得屏幕上的CH1波形為高電平,通過示波器的測量功能讀取CH1平均值。 |
24 | 穩(wěn)態(tài)觸發(fā)電流持續(xù)時間 | 23步測試完后,在波形暫停狀態(tài)下,縮小到200μs/div,利用示波器光標(biāo)測試CH4穩(wěn)態(tài)觸發(fā)的兩個拐點。記錄兩拐點的時間間隔 |
25 | 關(guān)斷電容組過壓檢測及上報功能 | 1、斷電情況下,通過跳線帽短接驅(qū)動板X3 2、示波器設(shè)置為CH1下降沿觸發(fā),觸發(fā)電平設(shè)置為-12V,時間軸設(shè)置為400ms/div 3、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,暫停波形。 |
26 | 關(guān)斷電容組過壓放電功能 | 1、J15外殼/GND測試針,接外部電源21.5V/1.3A電源 2、CH2設(shè)為2V/div,CH1設(shè)為1V/div,偏置20V,CH1與CH2共地,時間軸10ms/div。CH2接X5.7,CH1接J17下端(Vcoff) 3、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,通電。 4、測試完成后,兩個電源均斷電,模擬關(guān)斷電容組過壓測試用的電源輸出與驅(qū)動板脫開連接 |
27 | Vak過壓保護(hù)及上報功能 | 1、J1/J16外殼,接外部電源80V/0.5A 2、X2.3接CH1,CH1設(shè)為2V/div 3、Vak電源輸出端接CH3,CH3設(shè)為25V/div,20ms/div 4、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,啟動電源,示波器單次觸發(fā),啟動外部電源,在被觸發(fā)的波形上波器光標(biāo)測量CH4開始上升時刻CH3的電壓值并記錄,通過示波器測量功能或通過光標(biāo)測量CH2低電平脈沖寬度 5、測試完成后,兩個電源均斷電,VAK過壓測試用的電源輸出與驅(qū)動板脫開連接 |
28 | VAK過零檢測及上報功能 | 1、信號發(fā)生器輸出正接驅(qū)動板J1,輸出負(fù)接驅(qū)動板J16外殼,信號發(fā)生器設(shè)為正弦波波形,頻率50Hz,正負(fù)峰值均為10V 2、示波器的CH1接信號發(fā)生器輸出,CH1設(shè)為5V/div,示波器時間軸設(shè)為4ms/div 3、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,驅(qū)動板正常工作后,開啟信號發(fā)生器輸出。 4、測試完成后斷電 |
29 | 陰極過流保護(hù)及上報功能 | 1、信號發(fā)生器輸出接到X4左端,跳線帽短接X6,信號發(fā)生器輸出負(fù)接到短接點 2、信號發(fā)生器設(shè)為方波波形,頻率50Hz,正負(fù)峰值均為20mV. 3、示波器的CH1接驅(qū)動板P3中心點,CH2接驅(qū)動板電阻R190上側(cè),CH1/CH2設(shè)為1V/div,CH3接在發(fā)光小板對應(yīng)光電轉(zhuǎn)換位 4、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,開啟信號發(fā)生器,暫停波形 5、測試完成后斷電,斷開信號發(fā)生器與驅(qū)動板的連接,去除X6插針上的跳線帽,使用新的跳線帽短接X4插針。 |
30 | 關(guān)斷電容組充電電源脈沖負(fù)載測試 | 1、拆下與驅(qū)動板連接的模擬負(fù)載板,安裝用于轉(zhuǎn)接電阻負(fù)載的工裝板,工裝板正端接電子負(fù)載輸入正,負(fù)端接電子負(fù)載輸入負(fù) 2、示波器CH1測量VGK(將驅(qū)動板J17的2個測試針通過杜邦線引出后測試,避免打火),CH1設(shè)為交流耦合、200mV/div,時間軸設(shè)為200ms/div3、XS2.1/XS2.2輸入150V/2A,4、電子負(fù)載調(diào)取已存儲的負(fù)載參數(shù)(LIST1,脈沖寬度100ms,重復(fù)頻率1Hz,脈內(nèi)電流值7A,脈外電流值0.5A,重復(fù)300次)5、測試完成后斷電并拆除用于轉(zhuǎn)接電阻負(fù)載的工裝板 |
31 | 耐壓測試 | 1、電氣功能測試完成后,安裝屏蔽罩,并通過絕緣螺釘、螺母在驅(qū)動板環(huán)形開孔處將驅(qū)動板與屏蔽罩固定 2、耐壓儀設(shè)為交流模式,輸出電壓設(shè)為1500V,漏電流上限不低于3mA |
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