日本Otsuka大塚 粒径测试系统·ELSZneoSE
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型号
- 产地
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2025/4/23 16:17:07
- 访问次数 172
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 综合 |
日本Otsuka大塚 粒径测试系统·ELSZneoSE-成都藤田科技提供
产品信息
特征
“便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤,易于携带
“高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量
“兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜
“无损、非接触式测量”测量,不损坏样品
“测量各种样品” 无论基材(玻璃或塑料)如何,都可以进行测量
规范
规格
项目 | 专业版 | 标准 |
型 | SM-100P 系列 | SM-100S 系列 |
测量方法 | 反射光谱法(光学干涉法) | |
测量薄膜厚度范围*1 | 0.1~100μm(单层) 1~100μm(多层) | 1~50μm (单层) |
多层支持 | 最多 3 层 | 1 层 |
测量可重复性 | 2.1σ 0.01μm (氧化硅膜 1μm) | |
测量光斑直径 | Φ1mm 以下 | |
测量时间 | 小于 1 秒 | |
数据输出格式 | 以文本格式导出到 U 盘 | |
体型 | 约 138 (W) × 198 (D) × 61 (H) 毫米 | |
重量 | 约 1.1 千克 | |
行驶时间 | 4 小时或更长时间(测量) | |
电源电压/电源 | AC100-240V/35VA (交流适配器输入) | |
防护等级 | IP30/IK06 防护等级 |
*1 样品折射率为 1.6 时
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