线扫描膜厚仪(在线型)
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 上海波铭科学仪器有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2025/7/24 14:35:04
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产品信息
特点
式样
膜厚范围 | 0.1~300 μm |
测量幅度 | 500 mm~最大10 m |
测定间隔 | 1 ms~ |
装置大小(W×D×H) | 81×140×343 mm |
重量 | 4 kg(仅头部) |
最大功耗 | AC100 V±10% 125VA |
测量案例
500mm宽的包装薄膜
上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。