泰勒·霍普森（Taylor Hobson）作为精密测量领域者，开发了一系列高精度测针，以满足不同工业应用中的复杂测量需求。其中，PK-01小孔测针专为端条件下的精密测量而设计，特别适用于测量小孔、沟槽以及狭窄或难以接触的表面。

PK-01小孔测针主要特点：

超细测针端：提供测针半径低至 2μm 的版本，能够深入微小孔洞和狭缝，实现纳米级精度测量。

深孔测量能力：具备测量深达70mm的孔深能力，适用于深孔粗糙度或轮廓检测。

灵活的测量配置：

配备50mm长测针升降装置，便于调节测针位置。

支持直角附件，可在空间受限的环境中进行横向或垂直测量。

测针支持翻转向上测量，适应倒置或复杂几何表面的检测需求。

稳定支撑系统：采用防滑V型脚架设计，确保仪器在光滑或弯曲表面上依然保持稳定，无需额外夹具或昂贵的支撑工装。

全表面适应性：可在任意表面和不同高度进行测量，极大提升了现场检测的灵活性和效率。

标准配置包含：

显示单元

112-1502 标准测针

测针连接线

多刻线样板（用于校准和验证）

测针提升机构

USB接口充电器

使用手册

USB通讯电缆

仪器箱（便于携带和?；ど璞?/p>