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Zeta纳米电位仪通常是指同时具备纳米粒度分析和Zeta电位测量功能的光散射类仪器，其核心用途是表征胶体、纳米颗?；蛏锎蠓肿釉谌芤褐械牧＞斗植己捅砻娴绾桑╖eta电位），从而评估体系稳定性和分散行为。
Zeta纳米电位仪的测量精度取决于仪器型号和测量技术，但主流设备在粒度和Zeta电位两项指标上均具备亚微米级甚至纳米级的高精度表现，具体如下：
粒度测量精度
典型精度：±1%（相对误差）
高级型号：通过多角度动态光散射（MADLS）技术，分辨率更高，重复性显著提升
验证标准：使用NIST可追溯胶乳标准品，准确度可达±2%
Zeta电位测量精度
典型精度：±3%（相对误差）
高灵敏度技术：采用PALS（相位分析光散射）或M3-PALS技术，灵敏度提升1000倍，适用于低迁移率或高盐样品
实测验证：以NISTSRM1980标准水性体系为例，Zeta电位测得值为2.53±0.12μm·cm/V·s，误差小于5%
关键影响因素
温控精度：±0.1°C，有效减少热漂移误差
最小样品量：部分型号仅需20–50μL，降低稀释误差
电导率范围：最高支持260mS/cm，适应高盐体系
如需进行高精度Zeta电位测量，建议使用具备PALS或M3-PALS技术的型号，并确保样品分散均匀、浓度适中。
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