東譜科技太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)

太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)SolarYield是東譜科技針對(duì)太陽能電池行業(yè)開發(fā)的太陽能電池量子效率EQE、內(nèi)量子IQE、能量標(biāo)定、光譜響應(yīng)R、等效積分電流密度Jsc等測試平臺(tái)，適用于硅基、疊層、CIGS、GeTe、OPV、鈣鈦礦光伏等等各種類型的太陽能電池器件。該設(shè)備集成度高，主機(jī)集成樣品倉、樣品支架等部件，樣品臺(tái)帶3軸位移功能，方便對(duì)同一基片上的不同器件進(jìn)行測試，高清可視化系統(tǒng)，通過攝像頭方便看到測試光照射器件情況，調(diào)整樣品的光斑照射位置，使用便捷，測試效率高。

設(shè)備集成度高，主機(jī)集成單色儀、光學(xué)調(diào)制部件、電學(xué)檢測部件等，使用便捷，測試效率高；

配置高清可視化系統(tǒng)，通過攝像頭方便看到測試光照射器件情況，調(diào)整樣品的光斑照射位置；

SolarYield測試軟件，參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集、位置調(diào)整、能量標(biāo)定、存儲(chǔ)等均通過軟件完成。

該測試主機(jī)高度集成，內(nèi)置單色儀、光學(xué)調(diào)制部件和電學(xué)檢測部件等核心模塊。其光路在出廠時(shí)已完成優(yōu)化設(shè)置，通常無需用戶額外調(diào)整。主機(jī)同時(shí)集成了樣品倉、暗箱和樣品支架，采用全反射垂直向下照射光路設(shè)計(jì)，小光斑尺寸可在0.5mm至10mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)；大光斑尺寸可根據(jù)樣品定制；方案同時(shí)適用大小光斑。樣品臺(tái)配備三軸位移功能，便于對(duì)同一基片上的不同器件進(jìn)行定位測試。高清可視化系統(tǒng)（CCD）通過攝像頭實(shí)時(shí)顯示光斑照射器件的情況，輔助精確調(diào)整樣品位置；系統(tǒng)支持對(duì)感興趣區(qū)域（ROI）進(jìn)行點(diǎn)、圓形或矩形等多種形狀的位置標(biāo)記。測試過程由軟件集中控制，操作便捷，并支持多通道樣品的自動(dòng)切換。

該設(shè)備具備多項(xiàng)智能化測試輔助功能：測試前可進(jìn)行導(dǎo)通預(yù)判，檢查探針與電極的接觸狀態(tài)；提供子器件的一維位置標(biāo)記功能；可對(duì)所有子器件執(zhí)行短路電流的自動(dòng)輪詢；軟件設(shè)有專門界面用于監(jiān)測樣品與光斑的對(duì)準(zhǔn)情況及信號(hào)導(dǎo)通狀態(tài)。設(shè)備性能穩(wěn)定可靠，測試重復(fù)精度高：EQE在300-390nm波段平均不重復(fù)性≤±0.6%，400-1000nm波段≤±0.4%，其他波長≤±1%；短路電流密度不重復(fù)性≤±0.4%。

系統(tǒng)提供靈活的掃描模式：支持1納米至800納米范圍內(nèi)的任意數(shù)字步長設(shè)置；允許波長正向或反向掃描；探測器具備光強(qiáng)自動(dòng)標(biāo)定能力；提供“一次開機(jī)標(biāo)定”、“每次樣品掃描自動(dòng)標(biāo)定”、“文件標(biāo)定”三種模式選擇。

此外，設(shè)備還配備了強(qiáng)大的Dashboard控制面板模式，集成多種實(shí)時(shí)控制與監(jiān)測功能：可設(shè)置并記憶樣品位置與探測器位置（支持6檔位置記憶）；可自動(dòng)調(diào)節(jié)照明光強(qiáng)度（0%-100可調(diào)）；可觀察光斑成像并進(jìn)行圓形、方形或點(diǎn)狀ROI標(biāo)記，支持軟件縮放；可設(shè)置波長并實(shí)時(shí)觀測光電流大?。痪邆?檔光電流量程及自動(dòng)量程切換功能；可設(shè)置斬波器頻率；提供信號(hào)監(jiān)控功能，實(shí)時(shí)偵測樣品光電流信號(hào)的產(chǎn)生與變化；并配備光強(qiáng)監(jiān)控反饋電路（DSP鎖相輸入），其監(jiān)控反饋范圍與EQE測試波長一致。