絕緣材料介電常數(shù)與交流損耗的測(cè)試意義解析
絕緣材料介電常數(shù)與交流損耗的測(cè)試意義解析
絕緣材料在電學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,主要分為兩種情況。其一,用于固定電學(xué)網(wǎng)絡(luò)部件并實(shí)現(xiàn)絕緣,此時(shí)要求材料電容率低,以確保電容小且具備良好的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。其二,作為電容器電介質(zhì),需要高電容率,以便電容器體積小型化。同時(shí),交流損耗在兩種應(yīng)用中都要求較小,以減少材料發(fā)熱及對(duì)網(wǎng)絡(luò)的影響,尤其在高頻場(chǎng)合,損耗指數(shù)低至關(guān)重要。此外,耗散因子等指標(biāo)可反映材料電介質(zhì)擊穿、濕分含量、固化程度等特性,但熱老化導(dǎo)致的破壞通常不會(huì)影響耗散因子,除非材料后續(xù)暴露在濕分中,且當(dāng)初始耗散因子值重要時(shí),其隨老化變化顯著。這些測(cè)試指標(biāo)對(duì)于絕緣材料的性能評(píng)估和實(shí)際應(yīng)用選擇具有關(guān)鍵意義。
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