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“等效粒径”是激光粒度仪中的核心概念，其应用贯穿于仪器测量原理、数据处理及结果解释的全过程。等效粒径是指当一个颗粒的某一物理特性（如体积、散射光强、沉降速度等）与同质的球形颗粒相近时，用该球形颗粒的直径来代表实际颗粒的直径。由于实际颗粒形状复杂（如棒状、片状、多面体等），无法直接用“直径”描述其大小，而球形是简单的几何模型。等效粒径通过对比某一物理特性，将非球形颗粒简化为“虚拟球形颗粒”，从而用直径这一直观量表征颗粒大小。
激光粒度仪主要基于散射光强或衍射角度测量颗粒大小，其等效粒径属于等效散射粒径，即：
1、等效体积径：假设颗粒的散射光强与某一球形颗粒相同，则该球形颗粒的直径即为等效体积径。这是激光法默认的等效方式，反映颗粒的体积分布特性。
2、修正模型：对于非球形颗粒（如棒状、片状），需通过修正算法（如拟合椭圆法、比表面积法）补偿形状差异，计算更接近真实体积的等效粒径。
等效粒径的局限性与误差来源：
1、形状影响：非球形颗粒（如棒状、片状）的散射特性与球形差异较大，可能导致等效粒径偏差。例如：
2、棒状颗粒：长度远大于直径时，散射光强可能偏小，导致等效粒径低估。
3、片状颗粒：薄片结构可能遮挡部分激光，导致等效粒径高估。
4、复折射率选择：计算中需已知颗粒材料的复折射率，但其值可能因样品杂质或表面处理而变化，引入误差。
5、多重散射效应：高浓度样品中，颗粒间相互遮挡或多次散射会干扰测量，需通过稀释样品或算法校正。
等效粒径的实际应用场景：
1、工业质量控制：如制药、陶瓷、化工等领域，通过等效粒径快速评估粉体粒度分布，优化工艺参数。
2、研究与分析：在颗粒形态研究中，等效粒径可作为初步表征，但需结合显微镜或图像法分析形状差异。
“等效粒径”是激光粒度仪将复杂颗粒形状简化为球形模型的关键概念，其应用依赖于光学散射原理和数学模型的修正。尽管存在形状敏感性和复折射率选择等限制，但它仍是目前便捷的粒度表征方法之一。对于非球形颗粒，需结合修正算法或其他方法（如图像分析）提高准确性。
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