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實驗室X射線探傷設(shè)備的校準方法主要涉及對設(shè)備性能的全面檢查和調(diào)整，以確保其準確性和可靠性。以下是一種通用的校準方法：
一、校準前的準備
1.人員要求：
校準人員應(yīng)經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)，并持有國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局頒發(fā)的相應(yīng)級別的射線檢驗人員資格證書。
校準人員應(yīng)熟悉所用X射線探傷設(shè)備的基本結(jié)構(gòu)、各部分的作用及操作規(guī)程。
2.設(shè)備要求：
確保X射線探傷設(shè)備處于良好的工作狀態(tài)，無損壞痕跡，安裝螺絲無脫落。
準備校準所需的標準器具，如標準試塊（材質(zhì)為A3鋼，規(guī)格為200mm×100mm，表面粗糙度Ra≤6.3，厚度滿足相應(yīng)要求，允差為±4%）、密度計、線型象質(zhì)計等。
3.環(huán)境要求：
校準應(yīng)在符合規(guī)定的環(huán)境條件下進行，包括適宜的溫濕度和清潔度。
如果在校準室內(nèi)進行，應(yīng)確保實驗室的溫濕度符合規(guī)定；如果在現(xiàn)場進行操作，應(yīng)滿足設(shè)備現(xiàn)場使用的需要。
二、校準步驟
1.穿透力校驗：
將X光膠片裁成規(guī)定尺寸（如100mm×225mm），并放置在距焦點600mm的位置，膠片長邊方向與X射線管軸線方向平行。
在膠片前方緊貼放置標準試塊，增感屏使用規(guī)定厚度（如0.03mmPb），試塊四周按規(guī)定鉛當量遮擋。
采用額定管電壓、額定管電流進行曝光，曝光時間通常為5min。
將曝光后的膠片進行暗室處理，顯影定影液的配制及沖洗時間和溫度按X光膠片規(guī)定的要求進行。
干燥后的膠片用黑度計測量黑度值，計算算術(shù)平均值D。膠片本底黑度應(yīng)不大于0.3，D值應(yīng)不小于規(guī)定值（如1.5）。
2.輻射角校驗：
對于定向實驗室X射線探傷設(shè)備，將其放置在支承架上，窗口對準地面，地面應(yīng)用規(guī)定厚度的鉛板屏蔽。調(diào)整X射線機至額定值，進行透照，并測量底片上中心標記至底片黑度變化區(qū)黑度較大的邊界處的距離，計算X射線機的徑向輻射角和橫向輻射角。
對于周向X射線探傷機，將其立放于地面，測量機殼紅色帶中心距地面高度，并以此高度在距焦點600mm的不同位置（如0°、90°、180°、270°）各放置一個裝好膠片的暗袋。其他程序及方法同定向機校驗檢定。
3.計時器誤差校驗：
將機帶計時器分別調(diào)到不同位置（如0.5min、1min、5min等），開機的同時啟動秒表。機帶計時器停止時同時停止秒表，每個位置上測量多次（如3次），計算其算術(shù)平均值與設(shè)定值之差，取其與設(shè)定值之比最大者為計時器誤差。
4.透照靈敏度校驗：
測量要求同穿透力校驗。采用規(guī)定的線型像質(zhì)計（如JB/T7902-1995中的R'10系列），貼附在相應(yīng)試塊邊緣區(qū)域X射線機一側(cè)，像質(zhì)計的細線朝外。
按要求曝光并處理膠片。在背景光亮度不低于規(guī)定值（如215cd/m?）的觀片燈下用肉眼觀察底片，找出像質(zhì)計影像中可以分辨的最細的直徑，并計算透照靈敏度。
三、記錄與標識
1.記錄：
校準人員應(yīng)按規(guī)定的格式和內(nèi)容對測試數(shù)據(jù)認真記錄，包括校準日期、設(shè)備型號、校準結(jié)果等。
審核人員應(yīng)校對測試步驟、方法及所有測試信息數(shù)據(jù)，并對不符合項進行審核。
2.標識：
校準完畢后，在儀器上進行標識，注明校準日期、有效期、校準人員等信息。
四、注意事項
1.安全操作：
在進行實驗室X射線探傷設(shè)備校準時，應(yīng)嚴格遵守安全操作規(guī)程，防止X射線輻射對人體造成傷害。
校準人員應(yīng)佩戴個人防護用品，如防護服、防護眼鏡等。
2.定期校準：
X射線探傷設(shè)備應(yīng)定期進行校準，以確保其性能的穩(wěn)定性和準確性。校準周期通常為一年或根據(jù)設(shè)備使用情況確定。
3.校準報告：
校準完成后，應(yīng)編制校準報告，詳細記錄校準過程、結(jié)果和結(jié)論。校準報告應(yīng)由校準人員和審核人員簽字確認。
實驗室X射線探傷設(shè)備的校準方法包括校準前的準備、校準步驟、記錄與標識以及注意事項等方面。通過嚴格的校準流程，可以確保X射線探傷設(shè)備的準確性和可靠性，為無損檢測工作提供有力保障。
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