一、校準核心原理

二、校準關(guān)鍵步驟

1. 標準光源校準法

• 使用標準紫外線光源：
  通過高精度的紫外線標準光源（如氘燈、汞燈或紫外 LED 標準源），其輸出的紫外線強度已通過國家或國際計量機構(gòu)認證（如中國計量科學(xué)研究院 NIM、美國 NIST 等）。

• 比對測量：
  將 UV-351 的探測器置于標準光源下，讀取其測量值，并與標準光源的已知值進行對比。若存在偏差，通過設(shè)備內(nèi)置的校準程序或外部軟件調(diào)整修正系數(shù)（如靈敏度補償、波長響應(yīng)修正等）。

2. 標準探測器比對法

• 使用標準探測器：
  采用高精度的紫外探測器（如硅光電二極管、熱電堆探測器等，已校準并具備溯源性）作為參考標準。

• 同步測量：
  將 UV-351 與標準探測器并排放置，同時測量同一紫外線光源的強度，對比兩者的輸出信號（如電壓、數(shù)字值），調(diào)整 UV-351 的內(nèi)部參數(shù)（如放大倍數(shù)、偏移量），使兩者測量結(jié)果一致。

3. 波長響應(yīng)校準

• 波長掃描測試：
  使用單色儀或分光光度計產(chǎn)生不同波長的紫外光（覆蓋 310-385nm 范圍），測量 UV-351 在各波長點的響應(yīng)值，修正其波長響應(yīng)曲線，確保在全量程內(nèi)的準確性。

• 濾光片修正：
  通過內(nèi)置或外置的濾光片（如干涉濾光片）過濾雜散光，減少非目標波長的干擾，進一步提升波長精度。

4. 溫度與環(huán)境補償

• 溫度漂移校準：
  紫外線探測器的靈敏度可能隨溫度變化（如硅光電二極管的溫度系數(shù)）。校準需在不同溫度條件下（如 0-60℃范圍內(nèi)）測量設(shè)備的輸出，建立溫度補償模型，通過軟件算法自動修正溫度引起的偏差。

• 環(huán)境干擾控制：
  校準過程中需屏蔽環(huán)境光（尤其是可見光和紅外光），避免雜散光進入探測器，影響紫外光的準確測量。

三、校準周期與條件

1. 校準周期：

• 建議每年至少校準一次，若設(shè)備使用頻繁或在嚴苛環(huán)境下（如高溫、高濕、強振動），可縮短至每 6 個月一次。

• 當設(shè)備遭受撞擊、長時間未使用或測量結(jié)果出現(xiàn)明顯異常時，需重新校準。

2. 校準環(huán)境要求：

• 溫度：23±5℃（典型值）；

• 濕度：≤70% RH（無凝結(jié)）；

• 光照：暗室環(huán)境，避免環(huán)境光干擾。

四、校準結(jié)果與認證

• 校準證書：
  校準完成后，應(yīng)由具備資質(zhì)的計量機構(gòu)出具校準證書，注明各校準點的測量值、偏差范圍及校準日期。證書可作為設(shè)備精度符合標準的依據(jù)。

• 精度指標驗證：
  校準后需驗證設(shè)備的對準精度（如 ±1.5%）和重復(fù)性（如 ±1.5%）是否符合技術(shù)參數(shù)要求，確保其在實際應(yīng)用中的可靠性。

五、用戶自行校準注意事項

• 非專業(yè)人員勿自行拆解：
  設(shè)備內(nèi)部的光學(xué)元件和電路參數(shù)需專業(yè)工具和環(huán)境校準，用戶擅自調(diào)整可能導(dǎo)致精度下降或設(shè)備損壞。

• 定期送檢：
  建議將設(shè)備返回原廠或委托具備資質(zhì)的第三方校準機構(gòu)進行校準，避免因自行校準方法不當引入誤差。