正常化（儀器歸零）：按下 “校正” 按鈕，按 OK 鍵進(jìn)入，按屏幕提示用未鍍過的底材（形狀和材質(zhì)需和被測(cè)量工件一致）測(cè)量 3 - 5 次，按 OK 鍵確認(rèn)，屏幕顯示 “正常完成成功” 后，再次按 OK 鍵完成。

校正：按屏幕提示測(cè)量底材 3 - 5 次，不建議按 “跳過” 鍵，按 OK 鍵確認(rèn)。把標(biāo)準(zhǔn)片放在基材上，測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片 3 - 5 次，按 “設(shè)置” 鍵，用↑↓鍵調(diào)整數(shù)值直到和標(biāo)準(zhǔn)片相同，按 “OK” 鍵確定。若有第二片標(biāo)準(zhǔn)片，校正步驟同第一片，按 “OK” 確認(rèn)（儀器只附帶一片標(biāo)準(zhǔn)片，第二片時(shí)可直接跳過；如有多塊標(biāo)準(zhǔn)片，按從薄到厚的順序校正）。

簡(jiǎn)易校準(zhǔn)：在基材上測(cè)量 200um 以上的標(biāo)準(zhǔn)片 3 - 5 次左右，并設(shè)置相應(yīng)數(shù)值，按 “OK” 鍵完成（此功能只適合 200um 以上的涂鍍層）。

儀器開啟后，將儀器放在要測(cè)量的工件上，等待儀器發(fā)出測(cè)量聲響。

測(cè)量聲響后顯示讀數(shù)，把儀器提離工件。注意兩次測(cè)量間隔不少于 2 秒鐘，在測(cè)量前后，儀器應(yīng)與樣品保持一定距離，提起的最小距離為 5mm，且探頭觸點(diǎn)必須和被測(cè)面垂直。若太早提起儀器（未有聲響前），錯(cuò)誤信息 “Er6” 會(huì)出現(xiàn)，需重復(fù)步驟 1。

顯示統(tǒng)計(jì)值：可選擇 “顯示 S”（測(cè)量界面屏幕下方顯示平均值及標(biāo)準(zhǔn)偏差 S）、“顯示 N”（測(cè)量界面屏幕下方顯示平均值及測(cè)試次數(shù) N）、“無”（測(cè)量界面屏幕下方不顯示任何數(shù)據(jù)）。

設(shè)置 settings：可對(duì) “儲(chǔ)存讀數(shù)”（打勾為儲(chǔ)存數(shù)據(jù)，否則不儲(chǔ)存）、“連續(xù)顯示模式”（打勾為進(jìn)入連續(xù)測(cè)量模式）、“兩用”（設(shè)置磁感應(yīng)、電渦流及兩用模式）、“聲音信號(hào)”（測(cè)量時(shí)將會(huì)有響聲）、“顯示精度”（低、中、高選擇）、“單位”（公制、英制選擇）、“n 秒后”（設(shè)置儀器屏幕亮、暗）、“對(duì)比”（設(shè)置儀器對(duì)比度）、“語(yǔ)言”（設(shè)置使用語(yǔ)言）、“自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間”（1 分鐘和 5 分鐘兩檔選擇）等進(jìn)行設(shè)置。