FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，专为超薄镀层测量与痕量分析而生，凭借高性能成为行业优选设备。

核心优势

自动化测量：配备高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台与马达驱动的 Z 轴升降台，可实现全自动样品测量。当具有防护功能的测量门向上开启时，样品台自动移出至样品放置位，极大提升操作效率。

精准定位：通过激光点快速对准测量位置，内置带图像放大及十字线功能的视频系统，不仅简化样品放置流程，还能对测量点进行精确微调，确保测量精准无误。

操作与控制

所有仪器操作，包括测量数据计算、测量数据报表展示，均可通过功能强大且界面友好的 WinFTM® 软件在电脑端轻松完成，操作便捷高效。

性能参数

元素测定：最多可同时测定从铝（13）到铀（92）的 24 种元素，满足多样化分析需求。

结构设计：采用测量门向上开启的台式设计，侧面开槽，方便样品操作。

智能组件：配备马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，以及马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

核心部件：仪器搭载带铍窗口的微聚焦钨管，具备三挡可调节高压，同时配备 6 个可切换的基本滤片，为精准测量提供有力保障。