高精度、高功率、穩(wěn)定供電的守護(hù)者

AI算力芯片在處理大規(guī)模數(shù)據(jù)和復(fù)雜計(jì)算時(shí)，對(duì)電能的穩(wěn)定需求極為苛刻。FT68200NZ/N系列電子負(fù)載憑借其高功率穩(wěn)定性測(cè)試能力、高精度穩(wěn)定電流電壓、超低電壓特大電流。能夠精準(zhǔn)模擬這種高負(fù)載場(chǎng)景，對(duì)供電電源進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間、高強(qiáng)度的穩(wěn)定性測(cè)試。無(wú)論是調(diào)整負(fù)載的電流還是電壓值，FT68200NZ/N系列電子負(fù)載都能輕松應(yīng)對(duì)，且能將電流精度控制在

0.5%+0.05%F.S.，

電壓精度控制在

0.025%+0.025%F.S.。

從而確保電源在不同負(fù)載條件下依然能夠輸出穩(wěn)定、可靠的電能，為AI算力芯片提供堅(jiān)實(shí)的后盾。

超低壓大電流，處理器的支撐者

AI算力高速的處理信息和執(zhí)行復(fù)雜的運(yùn)算，依靠高性能的處理器(CPU)、影音處理器、圖形處理器(GPU)、高速高容量?jī)?nèi)存。相關(guān)的處理器電源所需電壓Vcore與GPU電壓范圍大約在0.6V至1.5V，VCORE電源的電流范圍大約在300A至800A；GPU電源電流范圍在800A~1400A，并持續(xù)朝大電流及高功率發(fā)展,FT68200NZ/N系列低壓大電流電子負(fù)載能夠達(dá)到驚人的0V@1200A和0.2V@5000A，這是國(guó)產(chǎn)電子負(fù)載里程碑上的突破，其搭載的高級(jí)測(cè)試功能滿足AI算力芯片供電電源測(cè)試的需求，不斷優(yōu)化和提升AI算力的性能和效率，為AI應(yīng)用的發(fā)展與普及奠定更加堅(jiān)實(shí)可靠的基礎(chǔ)。

動(dòng)態(tài)響應(yīng)，應(yīng)對(duì)萬(wàn)變的工作負(fù)載

AI算力芯片的工作負(fù)載瞬息萬(wàn)變，這對(duì)AI算力芯片供電電源的動(dòng)態(tài)響應(yīng)能力提出了的要求。FT68200NZ/N系列電子負(fù)載憑借其瞬態(tài)測(cè)試和序列測(cè)試功能，能夠精準(zhǔn)模擬各種動(dòng)態(tài)負(fù)載變化場(chǎng)景，如連續(xù)、脈沖、翻轉(zhuǎn)等模式。這不僅幫助測(cè)試人員全面評(píng)估AI算力芯片供電電源在動(dòng)態(tài)負(fù)載下的響應(yīng)速度和穩(wěn)定性，更為AI算力芯片在各種復(fù)雜應(yīng)用場(chǎng)景下的穩(wěn)定運(yùn)行提供了有力保障。

全面保護(hù)，守護(hù)芯片安全

在AI算力芯片的運(yùn)行過(guò)程中，過(guò)載、短路等異常情況時(shí)有發(fā)生。為了確保芯片的安全，供電電源必須具備完善的保護(hù)機(jī)制。FT68200NZ/N系列電子負(fù)載提供過(guò)電流、過(guò)電壓、過(guò)功率、過(guò)溫度等多種保護(hù)功能，并通過(guò)模擬短路、過(guò)載等故障場(chǎng)景來(lái)評(píng)估AI算力芯片供電電源的保護(hù)機(jī)制有效與否。這種全面的保護(hù)機(jī)制驗(yàn)證，讓AI算力芯片在遭遇異常情況時(shí)能夠得到及時(shí)有效的保護(hù)，避免了潛在的安全隱患。

全面電池測(cè)試性能，確保續(xù)航無(wú)虞

FT68200NZ/N系列電子負(fù)載提供電池容量測(cè)試、電池內(nèi)阻測(cè)試以及電池充電測(cè)試等功能，能夠全面模擬電池的充放電過(guò)程，對(duì)電池的續(xù)航能力和充電效率進(jìn)行評(píng)估。這不僅有助于提升AI算力芯片在電池供電模式下的穩(wěn)定性，更為用戶提供了更加便捷、高效的電池管理方案。

尺寸縮減，靈活便捷

對(duì)比與市場(chǎng)上的同類型電子負(fù)載，FT68200NZ/N系列可以做到拉載同等電流下體積減少90%，功率減少94%。這一舉措意味著在相同的空間內(nèi)部，可以部署更多的測(cè)試設(shè)備，也能降低電能的消耗。伴隨著AI技術(shù)的不斷進(jìn)化，AI算力芯片的性能持續(xù)提升，對(duì)其測(cè)試設(shè)備的測(cè)試效率也會(huì)有更高的要求。電子負(fù)載以其更小的尺寸，更高效地模擬各種負(fù)載情況，助力加速AI算力芯片供電電源的測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率。