一、定義：

        光器件溫度循環(huán)試驗，也稱為熱循環(huán)試驗或高低溫循環(huán)試驗，是將試驗樣品暴露于預(yù)設(shè)的高低溫交替的試驗環(huán)境中所進(jìn)行的可靠性試驗。

        溫循作為自然環(huán)境的模擬，可以考核產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的適應(yīng)能力，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。

二、目的

        溫循是驗證模擬溫度交替變化環(huán)境對電子元器件的機(jī)械性能及電氣性能影響的試驗，考核電子元器件在短期內(nèi)反復(fù)承受溫度變化的能力及不同結(jié)構(gòu)材料之間的熱匹配性能，暴露元器件潛在的材料缺陷和制造質(zhì)量缺陷，消除早期失效，提高產(chǎn)品可靠性。

三、指標(biāo)

        技術(shù)指標(biāo)包括：高溫溫度、高溫保持時間、下降速率、低溫溫度、低溫保持時間、上升速率、循環(huán)次數(shù)

        試驗的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時間。

四、原理

        電子元器件在實際使用中可能會遇到溫差變化比較大的環(huán)境條件。溫循試驗通過設(shè)定的試驗應(yīng)力曲線，使元器件在短期內(nèi)反復(fù)承受高溫、低溫變化應(yīng)力以及溫度交替突變影響，從而暴露出元器件因材料熱脹冷縮性能不匹配、內(nèi)引線和管芯涂料溫度系數(shù)不匹配、芯片裂紋、接觸不良和制造工藝等原因而造成的失效并加以剔除。

五、設(shè)備

        溫循一般采用高低溫交變試驗箱或高低溫交變濕熱試驗箱進(jìn)行試驗，

        普遍的高低溫試驗箱一般指的是恒定高低溫試驗箱，其控制方式為：設(shè)定一個目標(biāo)溫度，試驗箱具有自動恒溫到目標(biāo)溫度的能力；

        高低溫交變試驗箱具有設(shè)定一條或者多條高低溫變化、循環(huán)的程序，試驗箱有能力根據(jù)預(yù)置的曲線完成試驗過程，并且可以在升溫、降溫速率能力的范圍內(nèi)，精確控制升溫、降溫的速率。