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NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪，源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自 1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR 可提供完备的光束分析解决方案。
扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝 / 小孔的位置，复原整个光斑的分布。
| 扫描式光束分析仪的优点 | 扫描式光束分析仪的缺点 | |
| 取样尺度可以到微米量级，远小于CCD像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大； | 多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光； | |
| 采用单点探测器，适应紫外-中远红外宽范围波段； | 不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。 | |
| 适应弱光和强光分析； | 扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备du特的优势。 |
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