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190nm-1100nm扫描式激光光束轮廓分析仪NanoScan 2s Si/3.5/1.8
NanoScan 2s Si/3.5/1.8 扫描式激光光束轮廓分析仪
NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。
光束尺寸7µm至~2.3mm
功率级范围为~10nW至~10W
USB 2.0接口
包含NanoScan标准或专业软件
PH00456
NS2s-SI/3.5/1.8-STD
狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝
PH00464
NS2s-Si/3.5/1.8-PRO
狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝
产品规格
产品名称：NanoScan 2s Si/3.5/1.8
传感器类型：Silicon Photodetector
光谱范围：190 to 1100 nm
狭缝尺寸：1.8 µm
孔径尺寸：3.5 mm
光束尺寸：7 μm to 2.3 mm
扫描头尺寸：83 mm
功率范围：10 nW to 10 W
通信：USB 2.0
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