NanoScan2s狭缝扫描光束分析仪

扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝 / 小孔的位置，复原整个光斑的分布。

扫描式光束分析仪的优点 : 

取样尺度可以到微米量级，远小于 CCD 像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；

• 采用单点探测器，适应紫外 ~ 中远红外宽范围波段；

单点探测器具备很高的动态范围，一个探头可同时适应弱光和强光分析。

扫描式光束分析仪的缺点 :  

• 多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；

• 不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。

扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备du特的优势。

特点和功能

·可测量连续激光以及大于 1kHz 重频的脉冲激光·取样间隔可以调节小到 5.7nm，使其能够极其精确地测量非常小的光斑，

·可显示 2D/3D 光斑形貌

·扫描速度可调谐

·16 位数字化信号采集，35dB 高动态范围，20Hz最刷新频率·支持用户进行二次开发，便于集成

·探头可添加功率计选项

硅、锗和热释电探测器可选，测量范围可覆盖很宽的光谱范围和功率级别

·不加衰减就可以测量较高功率或焦点处光斑·所有的 NanoScan 的校准都可以朔源 NIST 标准以确保最终的精度·符合国际标准ISO/DIN11146及IS013694。(1989~1996 年Photon 公司主持了 ISO/DIN 委员会的工作，制订出了ISO/DIN11146 标准)

软件功能 :

NanoScan 提供 Standard 与 Professional 两种功能版本