手持式超聲波測(cè)厚儀的使用注意使用有幾點(diǎn)

來源：北京康高特儀器設(shè)備有限公司 2023年12月05日 11:21

　　手持式超聲波測(cè)厚儀是一種基于超聲波反射原理進(jìn)行厚度測(cè)量的設(shè)備，其準(zhǔn)確性受到多種因素的影響。以下是主要的影響因素：

　　1. 工件表面粗糙度：工件的表面粗糙度過大可能會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。當(dāng)表面粗糙度過大時(shí)，探頭與接觸面的耦合效果可能會(huì)變差，導(dǎo)致反射回波低或無(wú)法接收到回波信號(hào)。

　　2. 試件聲特性的變化：手持式超聲波測(cè)厚儀是基于底面回波的回波時(shí)間來計(jì)算缺陷埋深的。如果試件的聲特性發(fā)生變化，例如材料的聲速或衰減系數(shù)發(fā)生變化，那么超聲波在試件中的傳播速度也可能會(huì)有所變化，從而影響測(cè)量結(jié)果。

　　3. 材料聲速和衰減系數(shù)的變化：不同的材料具有不同的聲速和衰減系數(shù)。這些因素的變化可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差，因此在使用超聲波測(cè)厚儀時(shí)需要選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)曲線或方法來修正這些誤差。

　　4. 探頭與被測(cè)物體之間的距離：探頭與被測(cè)物體之間的距離對(duì)測(cè)量結(jié)果也有影響。如果距離過大或過小，都可能導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。

　　5. 探頭晶片的位置和角度：探頭晶片的位置和角度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響也不能忽視。如果位置和角度不恰當(dāng)，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差。

　　6. 儀器本身的性能和精度：不同品牌和型號(hào)的超聲波測(cè)厚儀可能具有不同的性能和精度。因此，選擇合適的儀器對(duì)于獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果至關(guān)重要。

　　為了確保測(cè)量的準(zhǔn)確性，操作者應(yīng)該了解上述影響因素，并在實(shí)際操作中采取相應(yīng)的措施來減少或修正這些誤差。

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