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产品特点/功能
只需将样品插入探头之间即可测量的简单测量仪器
在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换
通过 JOG 旋钮进行简单的测量条件设置
测量目标
半导体及太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜相关（金属、ITO等）
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
目标尺寸
约 8 英寸或约 156 x 156 毫米
测量范围
[电阻率] 1m 至 200Ω cm
（*所有探头类型的总范围/厚度 500um）
[表面电阻] 10m 至 3kΩ/sq
（*所有探头类型的总范围）
产品尺寸
W220×D325×H210mm
约6.5kg
1点1点测量 非接触式非接触式
操作指南：通过 JOG 旋钮进行简单的测量条件设置
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