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导波雷达料位计是依据时域反射原理为基础的雷达料位计，雷达料位计的电磁脉冲以光速沿钢缆或探棒传播，当遇到被测介质表面时，雷达料位计的部分脉冲被反射形成回波并沿相同路经返回到脉冲发射装置，发射装置与被测介质表面的距离同脉冲在其间的传播时间成正比，经计算得出液位高度。
不仅可以适应高温、高压、蒸汽等恶劣的环境条件?；咕哂械臀?，高性能，使用寿命长等优点。雷达物位计本身可以扛住一切，但是也怕来自外部的干扰。
第一种，来自天体和天电的干扰
天体带来的干扰是来自太阳或者其他恒星所产生的辐射电磁波。天电干扰则是因天气变化产生的雷电带来的电离子，因火山爆发或者地震等不可预测的自然灾害产生的电磁波和空间电位变化所引起的干扰。
第二种，来自机械方面的干扰
机械的干扰是指由于机械的振动或冲击，使控制仪表中的电气元件发生振动、变形，使连接线发生位移，使指针发生抖动、仪表接头松动等。对于机械类的干扰主要是采取减振措施来解决，例如采用减振弹簧、减振软垫、隔板等。
机械的干扰是指由于机械的振动或冲击，使控制仪表中的电气元件发生振动、变形，使连接线发生位移，使指针发生抖动、仪表接头松动等。对于机械类的干扰主要是采取减振措施来解决，例如采用减振弹簧、减振软垫、隔板等。
机械方面也是会产生一定的干扰，那是因为仪表安装或附近机械产生的振动冲击，这样会使仪表中的电气元件跟着一起振动、变形，使连接的点和线发生了位移，仪器的指针发生抖动、接头处松动等等。要解决机械类的干扰最主要就是要采取减振措施来解决，例如采用减振弹簧、减振软垫、隔板等。
第三种，来自热的干扰
在有热力设备的工厂，设备在工作时所产生出的热量会影响仪表的电路元器件，导致参数发生了变化，从而影响了控制仪表，没办法进行正常工作。
第四种，来自光的干扰
在仪表的制作中大规模的使用了各种各样的半导体元件，因为半导体元件在长期大量的光照下，会被影响导电性能，影响了仪表的正常工作。
第五种，来自湿度和化学方面的干扰
湿度过高会引起绝缘体的绝缘电阻下降，漏电流增加；电介质的介电系数增加，电容量增加；吸潮后骨架膨胀使线圈阻值增加，电感器变化；应变片黏贴后，胶质变软，精度下降等。
物位计大多是具备抗湿防腐的功能，但如果工况环境的湿度过高，则会引起漏电，如果测量的物体中还有酸、碱、盐等这些化学物品或者其他的腐蚀性气体，那么将会损坏仪表的设备和基础元器件，影响到仪表的正常工作。
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