日本valcom应变片式压力传感器的结构及操作说明

应变片式压力传感器的结构及操作说明
左侧所示的电阻桥安装在受压部的金属膜片的背面,将施加压力时金属膜片的变形量作为电压变化进行检测。
由于金属膜片表面有应变量大的地方和应变量小的地方,所以在四个地方附加了电阻,并且结构是这样的结构,即使应变量存在偏差, 可以正确检测。
特征
焊缝与O型圈之间无接缝,一体式膜片结构,坚固耐用。
高精度和高温(150℃)兼容制造是可能的
目标型号
应变片式压力传感器
VSD4、NSMS-A6VB、HSSC、HSSC-A6V、VHS、VHST、HSMC2、HSMC、VPE、VPB、VPRT、VPRTF、VPRQ、VPRQF、VPVT、VPPVTF、VPVQ、VPVQF、VPRF、VFM、VF , VFS, VTRF, VPRF2, VPRH2 等
薄膜压力传感器的结构及操作说明


薄膜压力传感器的结构及操作说明
我们的薄膜压力传感器是膜片式,使用金属规格薄膜。当从压力入口施加压力时,膜片变形,并检测由形成在膜片上的金属规薄膜变形引起的电阻变化。
它具有比应变片式压力传感器更高的灵敏度输出和比半导体式压力传感器更小的温度系数的特点。
特征
由于温度系数恒定,温度特性非常好
可以在很长一段时间内获得稳定的输出,随着时间的推移几乎没有变化。
可以处理高温(200°C)
目标型号
VSW2
测量原理
当对金属规薄膜施加压力并在输入端有电流时发生变形时,它表现为输出侧电信号的变化。
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