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場發(fā)射掃描電子顯微鏡廠家告訴你，場發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造分析
電子顯微鏡是利用電子束成像的顯微系統(tǒng)，它具有分辨率高，景深大，擴(kuò)展性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)成為研究微觀世界的重要手段之一。電子顯微鏡廣泛的應(yīng)用于生物農(nóng)林領(lǐng)域，它可以觀察農(nóng)作物的根、莖、葉、種子等的表面形貌，也可以觀察細(xì)胞、組織等的內(nèi)部超微結(jié)構(gòu)，還可以進(jìn)行元素分析。借助強(qiáng)大的擴(kuò)展附件，電子顯微鏡還具有光電聯(lián)用、三維解析等功能。
場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。
場發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造：
場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。
場發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造：
電子槍：也稱電子源，產(chǎn)生連續(xù)不斷的穩(wěn)定的電子流。場發(fā)射電子槍與普通鎢絲電子槍有所不同，陰極呈桿狀，在它的一端有個(gè)極鋒利的尖點(diǎn)（直徑小于100nm），尖端的電場*，電子直接依靠“隧道”穿過勢壘離開陰極，由加速電壓加速產(chǎn)生高速電子流飛向樣品。一般來說，掃描電鏡加速電壓通常為1-30kV。
電子透鏡：將從電子槍發(fā)射出來的電子匯聚成直徑最小為1-5nm電子束。
掃描系統(tǒng)：使電子束作光柵掃描運(yùn)動(dòng)。
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