FISCHERSCOPE XAN 252 X射线荧光测量仪概述：

        高性能X射线荧光测量仪，配有非常*的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

FISCHERSCOPE XAN 252 X射线荧光测量仪特点：

• 高性能机型，具有强大的综合测量能力
• 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
• 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
• 由下*的测量方向，可以非常简便地实现样品定位  

典型应用领域：

• 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
• 对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
• 在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析
• 用于高校研究和工业研发领域 

　　X射线测厚仪原理

　　XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

　　X射线测厚仪适用范围

　　XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

　　菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。