等離子發(fā)射光譜(ICP-OES)在冶金行業(yè)微量元素的準確定量中得以廣泛應用，因為其簡化了樣品前處理，無需復雜的基體分離和元素富集，更不會引入其他干擾元素和雜質。同時樣品不需要過量稀釋而引入稀釋誤差。盡管有如此多的優(yōu)點在先，其在該領域運用也有不可規(guī)避的挑戰(zhàn)：光譜干擾。許多基體有非常復雜的發(fā)射譜線，例如鐵有2000條譜線，這就增加了元素間譜線干擾的可能。在冶金行業(yè)，因微量元素含量低，稀釋倍數受限，所以其基體的光譜干擾就變得尤為突出。雖然目前有多種消除干擾的數據處理方法，PerkinElmer公司的多譜線擬合矯正（MSF）技術是強大和易操作的。對于多譜線擬合矯正方法有過很詳細的介紹，見參考文獻1. 簡而言之，多譜線擬合就是通過已知的空白、目標元素和干擾元素譜圖疊加而擬合出一個無干擾狀態(tài)的峰型。該消除干擾方式包含了所有的光譜信息，與積分背景點、積分點數等無關。
本文利用Avio 500 等離子體發(fā)射光譜儀對挑戰(zhàn)性的冶金樣品進行分析，通過多譜線擬合（MSF）矯正技術以得到更加準確可靠的測量結果。
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