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X射线荧光分析仪(XRF)
污染元素进行预校准。也可以方便地使用现场的样品来对仪器进行校准，以达到*的分析准确性。
广泛的含量范围，被分析样品类型不受任何限制。含量范围从*到ppm(g/l)级。分析可直接对土壤样品表面进行，也可在地表进行。可直接分析固体、粉末、液体、滤纸中的空气微粒、擦拭药签、各种设备表面、涂镀层、植物等。
快速、简单的分析--室内或室外。X-Met3000TX可用于污染土壤的预先筛选也可用于土壤清理工程的后续分析。分析的过程非常简单：将分析头直接对准样品（现场测量），或将样品包放入分析容器中（现场实验室测量），扣动仪器开关，读取结果。无需预先知道样品组成的信息。
通常在土壤分析中，zui重要的元素为Pb、As、Cr、Cu、Zn、Ni、Cd、Co、Se、Mo及Sb。
产品信息：
实验室中的桌面操作，提供使用特殊的样品包容器或特殊样品杯，样品可放置于塑料袋中。通过有效的扫描和分析确定污染程度。
可同时分析土壤中的所有有害元素。无需样品准备（现场分析）或只需将样品放置在塑料包中（现场实验室分析）。只在分析样品中含量低于100ppm的元素时需要额外的样品准备工作。典型的分析时间为15秒到300秒，取决于要求的性能、具体应用及感兴趣的元素。结果可以马上获得并存储在计算机中进一步处理。
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