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　　雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀是直接分析導(dǎo)電材料中的固態(tài)痕量元素的較佳工具，能在一次分析過程中測定基體元素(~100%)、主體元素(%)、微量元素(ppm)、痕量元素(ppb)和超痕量元素(ppt)。在元素定量分析上，具有以下幾個優(yōu)點：

 

　　1、它采用直接取樣技術(shù)，需測試的導(dǎo)電樣品經(jīng)過簡單的機械處理和表面清潔，無需要樣品轉(zhuǎn)化為溶液，即可進行元素定量分析，同傳統(tǒng)的酸溶解測試方法相比較，二次污染小。因此，在測試分析定量上準(zhǔn)確性更高。

 

　　2、雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀將高效率輝光放電離子源與高分辨率質(zhì)譜結(jié)合，具備高的分辨率和靈敏度、極低的檢測限、良好的數(shù)據(jù)重現(xiàn)性和一次74種元素分析足以滿足太陽能級硅材料分析的要求。該儀器同上海硅酸鹽研究所及目前規(guī)模較大的埃文思分析集團采用相同的測試標(biāo)準(zhǔn)和測試方法，并且具有更低的檢測限，因此測試結(jié)果的精確度上具有一定的優(yōu)勢。日本三津和化學(xué)藥品株式會社使用電感耦合等離子體--原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)，樣品需經(jīng)特定的溶解方法溶解，二次污染較大，并且B的檢出限為5ppm、最小的檢測限如Ag、Ba、Co等為1ppm，其余大部分元素檢測限在5-10ppm間。

 

　　3、本產(chǎn)品是硅行業(yè)乃至半導(dǎo)體行業(yè)分析材料純度通用手段，它能精確定量分析太陽能級硅材料中影響其性能的關(guān)鍵雜質(zhì)，是分析太陽能級硅材料的重要和可靠的手段，比如B、P、Fe。能測試的元素大部分在亞ppb級。

 

　　目前，雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀是太陽能級硅材料分析測試平臺的重要儀器之一。