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探真納米科技自主研發(fā)的TZ Sharp-TapL130-Electric導(dǎo)電探針，擁有大高寬比圓錐針尖以及側(cè)壁垂直針托。該系列產(chǎn)品不僅在分辨率、使用壽命等關(guān)鍵指標(biāo)上優(yōu)于進(jìn)口同類產(chǎn)品，更以高性價比優(yōu)勢成為AFM探針國產(chǎn)替代的理想選擇。

大高寬比圓錐針尖

1、TZ Sharp系列探針的圓錐形針尖，使其在與傳統(tǒng)金字塔探針使用成本接近的前提下，因擁有大高寬比的優(yōu)勢而可以適配更多測試場景，如:深溝槽、陡直臺階等。

2、TZ Sharp系列探針針尖半錐角小，針尖尖更細(xì)長尖銳，相比金字塔探針，同樣的磨損后依然很尖，使用壽命更長。

3、TZ Sharp系列探針噪音低，可以掃描單原子層二維材料和亞納米的原子級臺階。

側(cè)壁垂直臺階針托

1、TzSharp系列AFM探針針托兩側(cè)側(cè)壁陡直，而不是<111>面斜坡，更加便于夾取，改善了探針夾取過程中易掉落的問題。

2、TZ Sharp系列探針懸臂梁與針托連接處采用了臺階結(jié)構(gòu)設(shè)計，對光路友好，激光入射角更廣，適用于各種型號AFM機(jī)臺。