OMRON欧姆龙2D CMOS激光型传感器 ZS-HL
OMRON 欧姆龙 2D CMOS 激光型传感器 ZS-HL 系列
ZS-HL 系列是 OMRON 推出的高精度 2D 激光测量传感器,采用优良的 CMOS 成像技术与激光三角测量原理,具备亚微米级分辨率、全材质适应性、高速响应等特点,广泛应用于半导体、电子制造、汽车零部件等精密检测场景。以下是详细介绍:
一、核心技术优势

OMRON欧姆龙2D CMOS激光型传感器 ZS-HL
OMRON欧姆龙2D CMOS激光型传感器 ZS-HL
OMRON 欧姆龙 2D CMOS 激光型传感器 ZS-HL 系列
ZS-HL 系列是 OMRON 推出的高精度 2D 激光测量传感器,采用优良的 CMOS 成像技术与激光三角测量原理,具备亚微米级分辨率、全材质适应性、高速响应等特点,广泛应用于半导体、电子制造、汽车零部件等精密检测场景。以下是详细介绍:
一、核心技术优势
2D CMOS 成像技术
高动态范围:单像素独立控制,同时检测低反射率材料(如橡胶)和高反射率材料(如玻璃、金属镜面),无需切换模式。
抗环境光干扰:内置数字滤波算法,可在10,000lux环境光下稳定工作(需启用抗光模式)。
超精密测量
分辨率高达 0.25μm(如 ZS-LD10GT 型号),可检测微米级位移或厚度变化。
线性度 ±0.05% FS:确保测量结果的准确性,尤其适合精密零件装配(如芯片键合高度检测)。
高速响应
最快 110μs 采样周期(高速模式),支持高速生产线(如锂电极片涂布厚度实时监测)。
多通道同步:单控制器最多支持 4 通道,可同步测量多个位置或参数(如厚度 + 平面度)。
智能算法
透明体专用模式:针对玻璃、薄膜等透明材料,自动识别上下表面,直接输出厚度值(如 ZS-HLDS2VT 型号)。
轮廓分析功能:通过线激光扫描,生成2D 轮廓数据,用于平面度、翘曲度检测。