产地类别 |
进口 |
价格区间 |
20万-30万 |
应用领域 |
电子/电池,电气,综合 |
KOSAKA小坂台阶仪配备了不同型号的探针,并提供了程序控制接触力和垂直范围的探头。其彩色CCD原位采集设计使得探针工作状态一目了然,大大提高了测试区域的定位准确性。同时,ET150还具备二次元表面解析功能,可轻松测量段差,且具有高精度、高分辨率以及出色的再现性。
KOSAKA小坂台阶仪
株式会社小坂研究所(KOSAKA),这家拥有深厚技术底蕴的日本专业厂商,自1950年创立以来,便致力于精密测定的研究与创新。其中,KOSAKA ET150台阶仪是该公司的杰出代表,它基于Windows XP操作系统,为各类表面提供全面的形貌分析。无论是半导体硅片、太阳能硅片,还是薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子等,ET150都能应对自如,实现高精度的测量。其的金刚石(钻石)探针接触测量方式,使得表面形貌分析变得简单而可靠。此外,ET150还具备多种功能,如测量表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度以及薄膜应力等。
KOSAKA小坂台阶仪配备了不同型号的探针,并提供了程序控制接触力和垂直范围的探头。其彩色CCD原位采集设计使得探针工作状态一目了然,大大提高了测试区域的定位准确性。同时,ET150还具备二次元表面解析功能,可轻松测量段差,且具有高精度、高分辨率以及出色的再现性。此外,其FPD面板显示使得微细表面形状、段差、粗度等的测定变得简单易懂。更值得一提的是,其低测定力设计使得软质材料的测定也成为可能。
纵轴可达到的最高分辨率为0.1纳米,而横轴的最高分辨率则可达到0.1微米,这使得KOSAKA ET150台阶仪能够精确地测定微细形状。
其测定力范围可灵活设定,从10至500微牛顿,或1至50毫克力,适应不同材料的测量需求。该台阶仪特别适用于软质材料的表面测量,例如COLOR FILTER、SPACER以及PI等。