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日本MITUTOYO 大型CNC画像测量机 QV ACCEL
日本MITUTOYO 白光干涉仪QUICK WLI Pro系列
产地类别 | 进口 | 产品种类 | 白光测量机 |
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工作方式 | 垂直式 | 工作原理 | 自动型 |
价格区间 | 面议 | 应用领域 | 综合 |
日本MITUTOYO微细形状扫描探针图像测量机
日本MITUTOYO微细形状扫描探针图像测量机
设备采用压电陶瓷驱动的纳米定位平台,配合金刚石探针(曲率半径0.1μm)进行接触式扫描,测量力通过电磁反馈系统动态控制在5-500μN区间。同时集成500万像素CMOS传感器与20倍-2000倍电动连续变倍镜头,实现探针接触点周边区域的实时影像监测。这种"触觉+视觉"双模态设计,既可避免纯光学测量对透明/反光材料的局限性,又能克服传统接触式测量效率低下的缺陷。
智能测力补偿系统:
基于MEMS传感器实时监测样品硬度,自动调节Z轴伺服压力。在测量MEMS器件中的悬臂梁结构时,可将测量力稳定控制在10μN以下,确保微结构无变形。
多传感器数据融合:
通过激光共聚焦位移传感器(分辨率1nm)与白光干涉仪的选配组合,扩展设备对台阶高度(0.01-200μm)、表面粗糙度(Sa 0.5nm-5μm)等多参数同步测量能力。
动态环境补偿:
内置三轴振动隔离平台和温度梯度补偿算法,在Class 10000洁净室环境下仍保持±3nm的测量稳定性。
半导体封装:测量TSV通孔(直径5μm)的深宽比,通过3D点云重构实现孔壁垂直度分析
生物医疗:人工关节表面微坑(直径20-50μm)的形貌检测,符合YY/T 0640-2025标准
精密光学:AR衍射光栅(周期0.5μm)的轮廓测量,PV值重复性达0.8%
设备标配Python API接口,可集成至智能工厂MES系统。其生成的测量数据直接兼容ISO 5436-2标准格式,支持与三丰最新发布的SmartMetrology云计算平台进行数据交互,实现测量结果的AI趋势预测。
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