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单点开尔文探针

单点开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界分辨率的测试系统。

• 产品特点

• 扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面zui顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界zui高分辨率的测试系统。

• 详细介绍

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  扫描开尔文探针
  扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。
  
  主要特点：
  ● 功函分辨率< 3meV
  ● 扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同）
  ● 扫描分辨率：317.5nm
  ● 自动高度调节
  应用领域：
  ● 有机和非有机半导体
  ● 金属
  ● 薄膜
  ● 太阳能电池和有机光伏材料
  ● 腐蚀
  升级附件：
  ● 大气光子发射系统
  ● 表面光电压(QTH or LED)
  ● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
  ● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm
  ● 相对湿度控制和氮气环境箱