扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置，用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3meV业界分辨率的测试系统。

主要特点：

功函分辨率<3meV

扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同）

扫描分辨率：317.5nm

自动高度调节

扫描开尔文探针应用领域：

有机和非有机半导体

金属

薄膜

太阳能电池和有机光伏材料

腐蚀

升级附件：

大气光子发射系统

表面光电压(QTH or LED)

SPS表面光电压光谱(400-1000nm)

金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm

相对湿度控制和氮气环境箱